详情

原文传递一种在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法

专利名称：	一种在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法
摘要：	本申请公开了一种在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法，用于检测单相单箱在役盆式绝缘子存在的缺陷，采用高频或者直流X射线源和数字平板探测器进行检测，具体包括以下检测步骤：步骤S01垂直透照，步骤S02倾斜透照，步骤S03多角度成像，按照步骤S02中的倾斜透照步骤，所述X射线源的焦点d和数字平板探测器的相对安装位置不变并同时以所述盆式绝缘子的轴线旋转N次，使得1‑N次成像范围覆盖整个盆式绝缘子。采用本发明所述方法能够克服现有的超声波法、超高频法和紫外方法存在的不可量化，抗干扰能力差，以及需要特定窗口进行检测，存在不同弊端，不能兼容现有的在役盆式绝缘子的检测问题。
专利类型：	发明专利
申请人：	国网安徽省电力有限公司电力科学研究院
发明人：	杨为;周维超;张国宝;赵恒阳;朱太云;朱胜龙;宋东波;陈忠;蔡梦怡;曾德华
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T03:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T15:00:00+0805
申请号：	CN202010141639.7
公开号：	CN111157558A
代理机构：	成都中络智合知识产权代理有限公司
代理人：	喻依丰
分类号：	G01N23/18;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/18
申请人地址：	230000 安徽省合肥市经济技术开发区紫云路299号
主权项：	1.一种在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法，用于检测单相单箱在役盆式绝缘子(2)存在的缺陷，其特征在于：采用高频或者直流X射线源和数字平板探测器(4)进行检测，具体包括以下检测步骤：步骤S01垂直透照，将X射线源的焦点d沿待检测盆式绝缘子(2)轴线垂直的方向对盆式绝缘子(2)进行垂直透照，所述X射线源的焦点d发出的中心射线与完整覆盖所述盆式绝缘子(2)的盆子的数字平板探测器(4)垂直并交于数字平板探测器(4)的中心点O；步骤S02倾斜透照，将步骤S01中的X射线源的焦点d对盆式绝缘子(2)进行倾斜透照，保持X射线源的焦点d发出的中心射线始终垂直交于数字平板探测器(4)的中心点O，X射线源的焦点d发出的中心射线与GIS壳体(3)的夹角为β，所述盆式绝缘子(2)的曲面与GIS壳体(3)的夹角为a，所述a与β之和为90°；步骤S03多角度成像，按照步骤S02中的倾斜透照步骤，所述X射线源的焦点d和数字平板探测器(4)的相对安装位置不变并同时以所述盆式绝缘子(2)的轴线旋转N次，使得1-N次成像范围覆盖整个盆式绝缘子(2)；步骤S04分析步骤S03中获得的1-N次成像数据，判断缺陷是否存在，并与现有缺陷数据特征进行对比获得盆式绝缘子(2)的缺陷构成。 2.根据权利要求1所述的一种在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法，其特征在于：所述垂直透照步骤中，X射线源的焦点d在水平方向上相对所述盆式绝缘子(2)固定连接的法兰(1)偏移范围为0-150mm。 3.根据权利要求2所述的一种在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法，其特征在于：所述X射线源的焦点d的中心射线到最近GIS壳体的距离f值不低于500mm。 4.根据权利要求3所述的一种在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法，其特征在于：所述步骤S02中的a角度值通过步骤S01垂直透照后获得的数字成像，提取盆式绝缘子(2)的曲面轮廓线和GIS壳体(3)的轮廓线夹角测得夹角a的值。 5.根据权利要求1或4所述的一种在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法，其特征在于：所述步骤S02倾斜透照具体包括：步骤S021数字平板探测器(4)安装位置确定的步骤；将数字平板探测器(4)的平面与GIS壳体(3)保持a夹角，数字平板探测器(4)的左侧边缘相对于法兰(1)向盆式绝缘子(2)一侧水平偏移距离为l3，所述l3的计算方式如下：其中，θ为射线dA与GIS壳体的夹角；F2为X射线源焦点d到探测器的距离；n为探测器有效成像长度；a为盆式绝缘子曲面与GIS壳体的夹角；D为盆式绝缘子直径尺寸；步骤S022 X射线源的焦点d安装位置确定的步骤，所述X射线源的焦点d始终与所述数字平板探测器(4)垂直且距离为F2，X射线源的焦点d相对于法兰(1)水平偏移距离为l2，所述l2的计算方式如下：其中，l5为法兰厚度。 6.根据权利要求1或4所述的一种在役盆式绝缘子的X射线数字成像检测方法，其特征在于：所述步骤S03多角度成像具体还包括确定成像次数N的步骤，具体计算方式如下： γ＝ω+η 其中，K：射线透照厚度比值，即最大裂纹检出角，取1.1； γ：盆式绝缘子有效透照范围对应圆心角的半值； ω：射线束边界与盆式绝缘子中心的夹角； η：有效射线束角度的半值。
所属类别：	发明专利