专利名称: |
一种硼硅玻璃中硼同位素的快速测定方法 |
摘要: |
本发明属于物质性质测定技术领域,具体涉及一种硼硅玻璃中硼同位素的快速测定方法,该方法包括以下步骤:步骤(1)制备硼硅玻璃悬浊液样品;步骤(2)将步骤(1)制备的硼硅玻璃悬浊液按特定步骤涂样;步骤(3)热电离质谱仪测量。本发明仅对样品进行简单的悬浮液配制即可直接点样,可以极大的简化样品前处理流程避免了本底的干扰,同时缩短了样品测定所需时间,可实现样品的快速测定。 |
专利类型: |
发明专利 |
申请人: |
核工业北京地质研究院 |
发明人: |
汤书婷;崔建勇 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
1900-01-20T20:00:00+0805 |
发布日期: |
1900-01-20T22:00:00+0805 |
申请号: |
CN201911329993.6 |
公开号: |
CN111189902A |
代理机构: |
核工业专利中心 |
代理人: |
闫兆梅 |
分类号: |
G01N27/62;G01N1/28;G01N1/38;G01N1/44;G;G01;G01N;G01N27;G01N1;G01N27/62;G01N1/28;G01N1/38;G01N1/44 |
申请人地址: |
100029 北京市朝阳区小关东里十号院 |
主权项: |
1.一种硼硅玻璃中硼同位素的快速测定方法,其特征在于,该方法包括以下步骤: 步骤(1)制备硼硅玻璃悬浊液样品; 步骤(2)将步骤(1)制备的硼硅玻璃悬浊液按特定步骤涂样; 步骤(3)热电离质谱仪测量。 2.如权利要求1所述的一种硼硅玻璃中硼同位素的快速测定方法,其特征在于,所述的步骤(1)具体包含以下小步骤: 步骤(1.1)将硼硅玻璃样品研磨后过200目筛; 步骤(1.2)根据样品中B2O3含量不同称取不同含量粒度小于200目的粉末至于离心管中; 步骤(1.3)加入高纯水配制成满足热电离质谱仪测试含量需求的硼硅玻璃悬浊液,使用时震荡均匀。 3.如权利要求2所述的一种硼硅玻璃中硼同位素的快速测定方法,其特征在于,所述的步骤(2)具体包含以下小步骤: 步骤(2.1)用微量移液器吸取3μL石墨发射剂滴加在高纯钽灯丝中央,通电流升至1A蒸干; 步骤(2.2)用微量移液器吸取搅拌均匀的硼硅玻璃悬浊液滴加在已蒸干的石墨发射剂表面; 步骤(2.3)吸取2μL配制好的无水NaOH和甘露醇的混合溶液,维持1A的电流蒸干得到样品。 4.如权利要求3所述的一种硼硅玻璃中硼同位素的快速测定方法,其特征在于:所述的步骤(3)中硼同位素比值的测量由热电离质谱仪进行测定,采用Na2BO2+离子进行测试。 5.如权利要求4所述的一种硼硅玻璃中硼同位素的快速测定方法,其特征在于:所述的石墨发射剂是由Dag154N型的高纯石墨浆体和异丙醇按照2:1,V/V的比例混合后加入高纯水稀释50倍得到的。 6.如权利要求5所述的一种硼硅玻璃中硼同位素的快速测定方法,其特征在于:所述的步骤(1)中将含1%B2O3的硼硅玻璃样品研磨后过200目筛,称取50mg粒度小于200目的1%B2O3的硼硅玻璃样品粉末至于离心管中,加入1mL高纯水配制成悬浊液,步骤(2)中用微量移液器吸取4μL搅拌均匀的硼硅玻璃悬浊液滴加在已蒸干的石墨发射剂表面。 7.如权利要求6所述的一种硼硅玻璃中硼同位素的快速测定方法,其特征在于:所述的步骤(1)中将含12%B2O3的硼硅玻璃样品研磨后过200目筛,称取8mg粒度小于200目的12%B2O3的硼硅玻璃样品粉末至于离心管中,加入1mL高纯水配制成悬浊液,步骤(2)中用微量移液器吸取4μL搅拌均匀的硼硅玻璃悬浊液滴加在已蒸干的石墨发射剂表面。 8.如权利要求7所述的一种硼硅玻璃中硼同位素的快速测定方法,其特征在于:所述的步骤(1)中将含20%B2O3的硼硅玻璃样品研磨后过200目筛,称取5mg粒度小于200目的20%B2O3的硼硅玻璃样品粉末至于离心管中,加入1mL高纯水配制成悬浊液,步骤(2)中用微量移液器吸取4μL搅拌均匀的硼硅玻璃悬浊液滴加在已蒸干的石墨发射剂表面。 |
所属类别: |
发明专利 |