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原文传递 LED支架缺陷判定方法及系统

专利名称：	LED支架缺陷判定方法及系统
摘要：	本发明提供一种LED支架缺陷判定方法及系统。所述方法包括：获取LED支架的待测图像；根据待测目标在所述待测图像中LED支架的位置信息，对待测图像进行分割，并得到至少一个第一待测子图像；采用预设的模板图像对每个第一待测子图像进行匹配，并得到相应的匹配系数；根据匹配系数判断所述LED支架中的待测目标是否基本正常；若判定LED支架基本正常，根据LED支架对应的待测图像的灰度值，对LED支架对应的待测图像进行分割，并得到至少一个第二待测子图像；对每个第二待测子图像进行连通域分析，并得到相应的待测目标的属性信息；根据待测目标的属性信息判定所述LED支架是否存在缺陷。本发明能够精准快速的对LED支架上的待测目标进行判定，并能够节省劳动力。
专利类型：	发明专利
申请人：	研祥智能科技股份有限公司
发明人：	陈润康;林淼;张春平;刘志永
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T00:00:00+0805
申请号：	CN201911395306.0
公开号：	CN111060519A
代理机构：	北京兰亭信通知识产权代理有限公司
代理人：	赵永刚
分类号：	G01N21/88;H01L21/66;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/194;G;H;G01;H01;G06;G01N;H01L;G06T;G01N21;H01L21;G06T7;G01N21/88;H01L21/66;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/194
申请人地址：	518107 广东省深圳市光明新区高新路11号研祥智谷创祥地1号
主权项：	1.一种LED支架缺陷判定方法，其特征在于，包括：获取LED支架的待测图像，所述待测图像中包含至少一个待测目标；根据待测目标在所述待测图像中LED支架的位置信息，对所述待测图像进行分割，并得到至少一个第一待测子图像，其中，每个第一待测子图像中包含至少一个待测目标；采用预设的模板图像对每个第一待测子图像进行匹配，并得到相应的匹配系数，其中，所述匹配系数用于表示相应的第一待测子图像与所述面板图像的相似程度；根据所述匹配系数判断所述LED支架中的待测目标是否基本正常；若判定所述LED支架中的待测目标基本正常，根据所述LED支架对应的待测图像的灰度值，对所述LED支架对应的待测图像进行分割，并得到至少一个第二待测子图像，其中，每个第二待测子图像中包含至少一个待测目标；对每个第二待测子图像进行连通域分析，并得到相应的待测目标的属性信息；根据所述待测目标的属性信息判定所述LED支架是否存在缺陷。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述匹配系数判断所述LED支架中的待测目标是否基本正常包括：若所述匹配系数小于预设的第一阈值，判定所述LED支架中的待测目标存在缺陷；若所述匹配系数大于或等于预设的第一阈值，判定所述LED支架中的待测目标基本正常。 3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述模板图像的尺寸小于所述第一待测子对象尺寸；所述采用预设的模板图像对每个第一待测子图像进行匹配，并得到相应的匹配系数，包括：根据预设的步长，使用预设的模板图像遍历每个第一待测子图像，并在每个第一待测子图像上得到至少一预备匹配系数，将数值最大的预备匹配系数作为相应的匹配系数。 4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据正常的LED支架，获取所述模板图像，所述模板图像中包含至少一正常的样本目标；对所述模板图像进行连通域分析，并得到相应的样本目标的属性信息；存储所述样本目标的属性信息。 5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测目标的属性信息判定所述LED支架是否存在缺陷，包括：将待测目标的属性信息与样本目标的属性信息进行对比，得到对比系数，所述对比系数用于表示待测目标的属性信息与样本目标的属性信息；若所述对比系数小于预设的第二阈值，判定所述LED支架中的待测目标存在缺陷；若所述对比系数大于或等于预设的第二阈值，判定所述LED支架中的待测目标正常。 6.一种LED支架缺陷判定系统，其特征在于，包括：第一获取模块，被配置为获取LED支架的待测图像，所述待测图像中包含至少一个待测目标；第一分割模块，被配置为根据待测目标在所述待测图像中LED支架的位置信息，对所述待测图像进行分割，并得到至少一个第一待测子图像，其中，每个第一待测子图像中包含至少一个待测目标；匹配模块，被配置为采用预设的模板图像对每个第一待测子图像进行匹配，并得到相应的匹配系数，其中，所述匹配系数用于表示相应的第一待测子图像与所述面板图像的相似程度；判断模块，被配置为根据所述匹配系数判断所述LED支架中的待测目标是否基本正常；第二分割模块，被配置为在判定所述LED支架中的待测目标基本正常时，根据所述LED支架对应的待测图像的灰度值，对所述LED支架对应的待测图像进行分割，并得到至少一个第二待测子图像，其中，每个第二待测子图像中包含至少一个待测目标；第一分析模块，被配置为对每个第二待测子图像进行连通域分析，并得到相应的待测目标的属性信息；判定模块，被配置为根据所述待测目标的属性信息判定所述LED支架是否存在缺陷。 7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述判断模块包括：第一判定子模块，被配置为若所述匹配系数小于预设的第一阈值，判定所述LED支架中的待测目标存在缺陷；第二判定子模块，被配置为若所述匹配系数大于或等于预设的第一阈值，判定所述LED支架中的待测目标基本正常。 8.根据权利要求6或7所述的系统，其特征在于，所述模板图像的尺寸小于所述第一待测子对象尺寸；所述匹配模块，进一步被配置为根据预设的步长，使用预设的模板图像遍历每个第一待测子图像，并在每个第一待测子图像上得到至少一预备匹配系数，将数值最大的预备匹配系数作为相应的匹配系数。 9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：第二获取模块，被配置为根据正常的LED支架，获取所述模板图像，所述模板图像中包含至少一正常的样本目标；第二分析模块，被配置为对所述模板图像进行连通域分析，并得到相应的样本目标的属性信息；存储模块，被配置为存储所述样本目标的属性信息。 10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，所述判定模块包括：对比子模块，被配置为将待测目标的属性信息与样本目标的属性信息进行对比，得到对比系数，所述对比系数用于表示待测目标的属性信息与样本目标的属性信息；第三判定子模块，被配置为若所述对比系数小于预设的第二阈值，判定所述LED支架中的待测目标存在缺陷；第四判定子模块，被配置为若所述对比系数大于或等于预设的第二阈值，判定所述LED支架中的待测目标正常。
所属类别：	发明专利