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使用结构化光线于检测缺陷的方法与装置
| 专利名称： | 使用结构化光线于检测缺陷的方法与装置 |
| 摘要： | 呈现使用结构化光线用于检测关于所制造物品的符合度与完整度的问题的经改良的方法与装置。使用自相反方向获取的两个或两个以上结构化光线影像来量测配合表面的符合度，同时避免由接缝附近的小缺陷引起的误报。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 伊雷克托科学工业股份有限公司 |
| 发明人： | 里欧·鲍德温;约瑟·J·伊莫瑞 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-03-23T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200980110490.8 |
| 公开号： | CN101983330A |
| 代理机构： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
| 代理人： | 梁爱荣 |
| 分类号： | G01N21/88(2006.01)I |
| 申请人地址： | 美国奥勒冈州 |
| 主权项： | 一种用于将一物品中的缺陷归类的经改良方法，其包括将光线图案投射至该物品上，使用一影像感应器获取该所投射图案的影像，将所述影像传输至一计算机，及使用该计算机处理所述影像的步骤，其特征在于，该改良包含以下步骤：将第一图案自第一方向投射至该物品上；使用第一影像感应器获取该第一图案的第一影像；将该第一影像自该第一感应器传输至该计算机；将第二图案自第二方向投射至该物品上；使用第二影像感应器获取该第二图案的第二影像；将该第二影像自该第二影像感应器传输至该计算机；及使用该计算机处理该第一影像及该第二影像以检测所述影像之间的差异且以此将该物品中的缺陷归类。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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