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一种偏光片隐性缺陷光线检测装置及方法
| 专利名称： | 一种偏光片隐性缺陷光线检测装置及方法 |
| 摘要： | 本发明提供的一种偏光片隐性缺陷光线检测装置及方法，采用从左至右依次设置的光源(21)、第一光学器件(22)、第二光学器件(23)、第三光学器件(24)，并光源光线依次透过此光学组合，测量此光学组合不同光轴夹角下透过光线的光强，以获得偏光片隐性缺陷显现、检查及识别的最佳条件解决现有技术中检出率低、隐性不良发生率高，质量成本损耗大的技术问题，实现通过实现强对比度的方式来突出隐性不良的显现之原理，实现偏光片隐性缺陷的识别及检测；有效杜绝偏光片隐性不良的批量产出及流出，提高检出率，降低成本的技术效果。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 深圳市盛波光电科技有限公司 |
| 发明人： | 王莹;杨菊花;曹凯凯;张碧霞;林明清 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201810995527.0 |
| 公开号： | CN109187577A |
| 代理机构： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 |
| 代理人： | 姜书新 |
| 分类号： | G01N21/95(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 518000 广东省深圳市坪山新区大工业区青松路8号 |
| 主权项： | 1.一种偏光片隐性缺陷光线检测装置，其特征在于：该偏光片隐性缺陷光线检测装置包括从左至右依次设置的光源(21)、第一光学器件(22)、第二光学器件(23)、第三光学器件(24)，所述第一光学器件(22)至少包含一个普通型Nor类偏光片，所述第三光学器件(24) 至少包含一个普通型Nor类偏光片，所述第三光学器件(24)的光轴方向与所述第一光学器件(22)的光轴方向平行，所述第三光学器件(24)的光轴方向与所述第一光学器件(22)的光轴方向之间夹角值为0±10度，所述第二光学器件(23)的光轴方向与所述第三光学器件(24)和所述第一光学器件(22)的光轴方向垂直，所述第二光学器件(23)的光轴方向与所述第三光学器件(24)和所述第一光学器件(22)的光轴方向之间的夹角值为90±10度。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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