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用于硅样品痕量杂质元素分析的消解杯具
| 专利名称： | 用于硅样品痕量杂质元素分析的消解杯具 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种用于硅样品痕量杂质元素分析的消解杯具，包括消解杯体和消解杯盖，特征是：所述消解杯盖包括盖顶和盖沿，所述盖沿的内壁为光滑表面，在消解杯盖的盖顶设有出气口和圆柱状的进样口，在出气口上设有泄压盖，泄压盖的面积大于出气口的面积。在所述消解杯体的外围罩有消解杯罩。所述消解杯罩为顶部封闭的直筒状。本实用新型的优点：1、针管可从圆柱形出口处吸取额定的酸量，用针管滴样放缓化学反应的速度，进而保证消解样品时温度不会急剧增高，减少随二氧化氮流失的硼元素；2、杯盖上的翻盖可延长消解杯的使用寿命，且保证外界环境不会污染样品；3、消解杯罩可以加快挥硅的速度、减少环境污染。 |
| 专利类型： | 实用新型专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 无锡中彩科技有限公司 |
| 发明人： | 周大荣 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2010-06-24T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201020236548.3 |
| 公开号： | CN201749046U |
| 代理机构： | 无锡市大为专利商标事务所 32104 |
| 代理人： | 曹祖良 |
| 分类号： | G01N1/28(2006.01)I |
| 申请人地址： | 214183 江苏省无锡市惠山区玉祁镇工业集中区 |
| 主权项： | 一种用于硅样品痕量杂质元素分析的消解杯具，包括消解杯体(1)和消解杯盖(2)，其特征是：所述消解杯盖(2)包括盖顶和盖沿，所述盖沿的内壁为光滑表面，在消解杯盖(2)的盖顶设有出气口(4)和圆柱状的进样口(6)，在出气口(4)上设有泄压盖(5)，泄压盖(5)的面积大于出气口的面积。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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