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一种使用ICP光谱法测定精锂中钙含量的方法
| 专利名称： | 一种使用ICP光谱法测定精锂中钙含量的方法 |
| 摘要： | 本发明实施例提供一种使用ICP光谱法测定精锂中钙含量的方法，以提高作业过程的安全性和降低生产成本。所述方法包括以下步骤：(1)使用待测精锂制备锂元素含量为100毫克的待测试液；(2)确定测定所述待测精锂中钙含量所需的标准工作曲线；(3)将所述待测试液引入电感耦合等离子体ICP发射光谱仪，根据所述标准工作曲线确定所述待测精锂中的钙含量。本发明实施例提供的使用ICP光谱法测定精锂中钙含量的方法可以消除了作业过程的安全隐患，作业过程安全度得到很大提高；另一方面，测量过程无需专门的备件，降低生产成本并且灵敏度比使用原子吸收光谱法高。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 重庆;85 |
| 申请人： | 西南铝业（集团）有限责任公司 |
| 发明人： | 陈雄立 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2011-09-26T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201110288326.5 |
| 公开号： | CN102507537A |
| 代理机构： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
| 代理人： | 逯长明 |
| 分类号： | G01N21/73(2006.01)I |
| 申请人地址： | 401326 重庆市九龙坡区西彭镇 |
| 主权项： | 一种使用ICP光谱法测定精锂中钙含量的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：(1)使用待测精锂制备锂元素含量为100毫克的待测试液；(2)确定测定所述待测精锂中钙含量所需的标准工作曲线；(3)将所述待测试液引入电感耦合等离子体ICP发射光谱仪，根据所述标准工作曲线确定所述待测精锂中的钙含量。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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