专利名称: | 基于标准CMOS工艺的细胞膜电位传感器 |
摘要: | 一种基于标准CMOS工艺的细胞膜电位传感器,所述细胞膜电位传感器包括场效应管漏区和场效应管源区构成的MOS场效应管,所述MOS场效应管与氧化层连接,所述氧化层上覆盖多层金属栅极结构,所述多层金属栅极结构自下而上依次包括连接层、金属1层、通孔层和金属2层,所述金属2层上设有供活体细胞培养的裸露微电极。本发明提供一种实现与标准CMOS工艺兼容、便于集成化的基于标准CMOS工艺的细胞膜电位传感器。 |
专利类型: | 发明专利 |
国家地区组织代码: | 浙江;33 |
申请人: | 浙江工业大学 |
发明人: | 施朝霞 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2011-11-07T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN201110348912.4 |
公开号: | CN102520044A |
代理机构: | 杭州天正专利事务所有限公司 33201 |
代理人: | 王兵;王利强 |
分类号: | G01N27/414(2006.01)I |
申请人地址: | 310014 浙江省杭州市下城区朝晖六区 |
主权项: | 一种基于标准CMOS工艺的细胞膜电位传感器,其特征在于:所述细胞膜电位传感器包括场效应管漏区和场效应管源区构成的MOS场效应管,所述MOS场效应管与氧化层连接,所述氧化层上覆盖多层金属栅极结构,所述多层金属栅极结构自下而上依次包括连接层、金属1层、通孔层和金属2层,所述金属2层上设有供活体细胞培养的裸露微电极。 |
所属类别: | 发明专利 |