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原文传递 基于标准CMOS工艺的细胞膜电位传感器
专利名称: 基于标准CMOS工艺的细胞膜电位传感器
摘要: 一种基于标准CMOS工艺的细胞膜电位传感器,所述细胞膜电位传感器包括场效应管漏区和场效应管源区构成的MOS场效应管,所述MOS场效应管与氧化层连接,所述氧化层上覆盖多层金属栅极结构,所述多层金属栅极结构自下而上依次包括连接层、金属1层、通孔层和金属2层,所述金属2层上设有供活体细胞培养的裸露微电极。本发明提供一种实现与标准CMOS工艺兼容、便于集成化的基于标准CMOS工艺的细胞膜电位传感器。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 浙江;33
申请人: 浙江工业大学
发明人: 施朝霞
专利状态: 有效
申请日期: 2011-11-07T00:00:00+0800
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201110348912.4
公开号: CN102520044A
代理机构: 杭州天正专利事务所有限公司 33201
代理人: 王兵;王利强
分类号: G01N27/414(2006.01)I
申请人地址: 310014 浙江省杭州市下城区朝晖六区
主权项: 一种基于标准CMOS工艺的细胞膜电位传感器,其特征在于:所述细胞膜电位传感器包括场效应管漏区和场效应管源区构成的MOS场效应管,所述MOS场效应管与氧化层连接,所述氧化层上覆盖多层金属栅极结构,所述多层金属栅极结构自下而上依次包括连接层、金属1层、通孔层和金属2层,所述金属2层上设有供活体细胞培养的裸露微电极。
所属类别: 发明专利
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