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原文传递 不良检查系统及其方法
专利名称: 不良检查系统及其方法
摘要: 本发明公开一种支架结构体,其特征在于,包括:图像获取装置;支架,其支撑所述图像获取装置;以及结合构件,其将所述支架固定到支撑件,其中,第一基板从第一方向向第二方向移动,第二基板从所述第二方向向所述第一方向移动,所述第一基板与所述第二基板同时移动,所述图像获取装置在所述第一基板及所述第二基板移动时检查所述第一基板的不良向。本发明能够大幅降低不良检查系统的费用。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 韩国;KR
申请人: 塞米西斯科株式会社
发明人: 姜志浩;柳林水
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810293780.1
公开号: CN108663377A
代理机构: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人: 延美花;臧建明
分类号: G01N21/892(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/892
申请人地址: 韩国京畿道水原市
主权项: 1.一种支架结构体,其特征在于,包括:图像获取装置;支架,其支撑所述图像获取装置;以及结合构件,其将所述支架固定到支撑件,其中,第一基板从第一方向向第二方向移动,第二基板从所述第二方向向所述第一方向移动,所述第一基板与所述第二基板同时移动,所述图像获取装置在所述第一基板及所述第二基板移动时检查所述第一基板的不良。
所属类别: 发明专利
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