专利名称: |
用于定量质量分析的方法和系统 |
摘要: |
公开了一种对来自单个或同一离子注入事件的不同质荷比(m/z)的前体种类进行定量质量分析的方法。具有不同的相应m/z比的多个前体离子种类同时引入到质谱仪中。所述前体离子种类经隔离。具有第一m/z比的所述隔离前体离子的第一子集经片段化和分析。具有第二m/z比的所述隔离前体离子的第二子集经片段化和分析。针对前体离子的所述第一子集的所述片段离子产生第一质谱,且针对前体离子的所述第二子集的所述片段离子产生第二质谱。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
美国;US |
申请人: |
萨默费尼根有限公司 |
发明人: |
李林繁;D·J·贝利 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810195590.6 |
公开号: |
CN108593759A |
代理机构: |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人: |
陈洁;姬利永 |
分类号: |
G01N27/64(2006.01)I;H01J49/00(2006.01)I;H01J49/02(2006.01)I;H01J49/42(2006.01)I;G;H;G01;H01;G01N;H01J;G01N27;H01J49;G01N27/64;H01J49/00;H01J49/02;H01J49/42 |
申请人地址: |
美国加利福尼亚州 |
主权项: |
1.一种针对样本中的分析物的定量操作离子阱质量分析器的方法,包括:a.在单个注入事件中将样本离子引入到所述离子阱质量分析器中,所述样本离子包含具有第一质荷比(m/z)的第一前体离子和具有第二m/z的第二前体离子;b.并行隔离所述第一前体离子和所述第二前体离子;c.使所述第一前体离子而不是所述第二前体离子片段化,以产生第一产物离子;d.执行第一扫描以质量选择性地检测所述第一产物离子并获取包含所述第一产物离子的第一质谱,其中所述第一扫描的终点经设置使得所述第二前体离子保留在所述离子阱质量分析器中;e.使所述第二前体离子片段化以产生第二产物离子;及f.执行第二扫描以质量选择性地检测所述第二产物离子并获取包含所述第二产物离子的第二质谱。 |
所属类别: |
发明专利 |