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一种用于介质材料二次电子发射系数测量的样品测试载台
| 专利名称： | 一种用于介质材料二次电子发射系数测量的样品测试载台 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于介质材料二次电子发射系数测量的样品测试载台，包括载台本体，所述载台本体包括样品安装段、绝缘段及连接段，所述样品安装段与连接段通过绝缘段串联，且所述绝缘段作为样品安装段与连接段之间的绝缘部件；还包括设置在样品安装段上的法拉第筒。该样品测试载台可以方便准确地测定入射脉冲电子信号，降低被测信号受到的干扰，从而提高介质材料二次电子发射系数的测量准确度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 中国工程物理研究院流体物理研究所 |
| 发明人： | 何佳龙;龙继东;李杰;彭宇飞;杨振;刘平;王韬;李喜;董攀;蓝朝晖;郑乐;刘尔祥;赵伟;杨洁;石金水 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201811086081.6 |
| 公开号： | CN108896596A |
| 代理机构： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 |
| 代理人： | 高俊 |
| 分类号： | G01N23/2204(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/2204 |
| 申请人地址： | 621000 四川省绵阳市游仙区绵山路64号 |
| 主权项： | 1.一种用于介质材料二次电子发射系数测量的样品测试载台，包括载台本体(12)，其特征在于，所述载台本体(12)包括样品安装段(3)、绝缘段(4)及连接段，所述样品安装段(3)与连接段通过绝缘段(4)串联，且所述绝缘段(4)作为样品安装段(3)与连接段之间的绝缘部件；还包括设置在样品安装段(3)上的法拉第筒(13)。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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