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腔耦合MDM波导等离子传感体系的传感性能检测方法
| 专利名称： | 腔耦合MDM波导等离子传感体系的传感性能检测方法 |
| 摘要： | 本发明属于传感技术领域，公开了一种腔耦合MDM波导等离子传感体系的传感性能检测方法，本发明通过建立描述腔耦合MDM波导光学传感体系传感性能的模型，揭示耦合方式、耦合强度、相位差异、频谱响应的对称性破缺、传输损耗、相互作用强度及共振失谐等因素对系统慢光传感的影响的一般规律，确定特定结构中对介质变化比较敏感的波段，这些方面的分析相关报道较少；提出采用多模理论来解释腔耦合MDM波导结构体系中诱导透明产生的机理，通过电容模型解释由结构参数改变导致等离子共振峰的偏移，发展腔耦合MDM波导结构体系中的色散特性和耗散机制的新方法，这些模型理论具有较强的创新性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江西;36 |
| 申请人： | 萍乡学院 |
| 发明人： | 李伯勋;曾礼丽;张兴娇;廖昆;刘琨 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810614440.4 |
| 公开号： | CN108593562A |
| 代理机构： | 北京华智则铭知识产权代理有限公司 11573 |
| 代理人： | 陈向敏 |
| 分类号： | G01N21/17(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/17 |
| 申请人地址： | 337000 江西省萍乡市安源北大道211号 |
| 主权项： | 1.一种腔耦合MDM波导等离子传感体系的传感性能检测方法，其特征在于，所述腔耦合MDM波导等离子传感体系的传感性能检测方法包括以下步骤：步骤一，以金属色散模型与介质MDM波导模型为基础，设计不同的结构体系，通过时域有限差分方法(FDTD)、耦合模理论建立慢光传感的数学模型，分析结构参数与器件灵敏度及慢光传感品质因子之间的关系；步骤二，分析单元的结构参数、内部损耗、相互作用强度和共振失谐因素对传感器FOM的影响规律，确定特定结构中对介质变化比较敏感的波段；步骤三，通过优化器件结构分析光与MDM波导结构的耦合效率，进行慢光传感FOM增强，设计出亚波长尺度结构紧凑、高灵敏度、品质优异的等离子慢光传感结构。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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