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具有测量优化操作员辅助的光谱仪
| 专利名称： | 具有测量优化操作员辅助的光谱仪 |
| 摘要： | 具有测量优化操作员辅助的光谱仪。本公开涉及帮助光谱仪的操作员进行样本的光谱测量的辅助机制和方法，该测量具有期望的质量。该方法使得能够快速简单地进行质量光谱测量，而无需事先了解样本的光谱或关于如何测量光谱的细节。数据质量得到改善，并且收集数据所需的时间减少。尽管详细公开了样本光学聚焦的具体示例，但是可以优化许多其他参数。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 美国;US |
| 申请人： | 凯塞光学系统股份有限公司 |
| 发明人： | 达伦·席佩尔;约瑟夫·B·斯莱特;詹姆士·M·特德斯科 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810499653.7 |
| 公开号： | CN108931479A |
| 代理机构： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 |
| 代理人： | 张焕生;戚传江 |
| 分类号： | G01N21/01(2006.01)I;G01N21/25(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/01;G01N21/25 |
| 申请人地址： | 美国密歇根州 |
| 主权项： | 1.一种辅助光谱仪的操作员提高样本的光谱测量的质量的方法，所述方法包括：提供光谱仪，该光谱仪包括探头和具有动态范围的检测器，其中，所述光谱仪由处理器控制，该处理器与显示设备通信；定义定期更新间隔；在所述更新间隔期间执行样本的自动单次光谱测量的序列；在所述更新间隔结束时，基于更新间隔期间利用所述处理器获取的所述样本的组合光谱测量，计算并经由所述显示设备显示测量质量度量(MQM)；向所述操作员提供信息，使所述操作员能够优化所述MQM；以及重复所述单次光谱测量的序列，计算和显示所述MQM，并且向所述操作员提供信息，直到达到所述样本的组合光谱测量的期望质量。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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