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电子元件测试设备及其移动校准机构
| 专利名称： | 电子元件测试设备及其移动校准机构 |
| 摘要： | 本实用新型公开一种移动校准机构，该移动校准机构，包括用于对电子元件外形进行校准的校准装置、用于吸取电子元件的吸取装置、用于控制所述吸取装置工作状态的控制装置和用于安装吸取装置的安装板，校准装置位于吸取装置下方，包括设置有若干校准腔的校准块和用于驱动校准块前后移动的驱动源。本实用新型还公开一种电子元件测试设备，该电子元件测试设备包括前述的移动校准装置。本实用新型简化了电子元件的校准工序，节约了校准时间，提高了工作效率。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 深圳市易胜德机械设备有限公司 |
| 发明人： | 刘丹 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201820396929.4 |
| 公开号： | CN207986161U |
| 代理机构： | 深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426 |
| 代理人： | 隆毅 |
| 分类号： | B65G47/91(2006.01)I;B65G47/22(2006.01)I;B;B65;B65G;B65G47;B65G47/91;B65G47/22 |
| 申请人地址： | 518000 广东省深圳市光明新区公明办事处长圳社区长凤路裕永兴工业区4号厂房八楼C区 |
| 主权项： | 1.一种移动校准机构，包括用于对电子元件外形进行校准的校准装置、用于吸取电子元件的吸取装置、用于控制所述吸取装置工作状态的控制装置和用于安装所述吸取装置的安装板，其特征在于，所述校准装置位于所述吸取装置下方，包括设置有若干校准腔的校准块和用于驱动所述校准块前后移动的驱动源。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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