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在期望方位校准叠层电子元件的方法及其校准装置
| 专利名称： | 在期望方位校准叠层电子元件的方法及其校准装置 |
| 摘要： | 一种元件在部件馈送机的传输通道中传输时用于校准叠层电子元件中叠层平面电极方位的方法和装置。磁场发生单元位于部件馈送机的内侧和外侧，用于施加在水平或垂直方向上延伸的磁场线。电极的方位与磁场线的方向一致。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | TDK股份有限公司 |
| 发明人： | 八木弘 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2005-01-17T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200510004374.1 |
| 公开号： | CN1649047 |
| 代理机构： | 中科专利商标代理有限责任公司 |
| 代理人： | 刘晓峰 |
| 分类号： | H01G4/12 |
| 申请人地址： | 日本国东京都 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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