专利名称: |
片材检查装置及检查系统 |
摘要: |
本发明提供一种片材检查装置及检查系统。片材检查装置(1)是检查片材状的被检查物(9)的片材检查装置,包括:照明构件(31)、照明构件(32),对所述被检查物照射光;拍摄构件(4),利用从所述照明构件照射至所述被检查物的光的反射光和/或透射光拍摄所述被检查物的图像;异常检测构件(5),根据对所述拍摄构件所拍摄到的图像的图像数据进行处理而获得的特征量的分布状况,检测所述被检查物中所含的异常;以及存储构件(6),保持表示所述被检查物的无异常的部分及异常部分的所述特征量的分布状况,作为类型图;并且所述异常检测构件根据所述类型图,检测所述被检查物的异常。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
日本;JP |
申请人: |
欧姆龙株式会社 |
发明人: |
宫田佳昭;松下明 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810139060.X |
公开号: |
CN108732182A |
代理机构: |
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 |
代理人: |
马爽;臧建明 |
分类号: |
G01N21/88(2006.01)I;G01N21/94(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/88;G01N21/94 |
申请人地址: |
日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东入南不动堂町801番地 |
主权项: |
1.一种片材检查装置,检查片材状的被检查物;所述片材检查装置的特征在于包括:照明构件,对所述被检查物照射光;拍摄构件,利用从所述照明构件照射至所述被检查物的光的反射光和/或透射光,拍摄所述被检查物的图像;异常检测构件,根据对所述拍摄构件所拍摄到的图像的图像数据进行处理而获得的特征量的分布状况,检测所述被检查物中所含的异常;以及存储构件,保持表示所述被检查物的无异常的部分及异常部分的所述特征量的分布状况,作为类型图;并且所述异常检测构件根据所述类型图,检测所述被检查物的异常。 |
所属类别: |
发明专利 |