原文传递
基于干涉聚焦像的透明椭球粒子转向判别方法
| 专利名称： | 基于干涉聚焦像的透明椭球粒子转向判别方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于干涉聚焦像的透明椭球粒子转向判别方法，步骤(1)、利用干涉粒子成像系统，获取透明椭球粒子的干涉聚焦像；步骤(2)、标出干涉聚焦像亮点分布方向；步骤(3)、作沿着干涉聚焦像亮点分布方向的垂轴对称线，干涉聚焦像亮点分布方向的垂轴对称线方向为获取到的透明椭球粒子转向。本发明直接通过粒子干涉聚焦像实现粒子转向的判别，为光学系统中透明椭球粒子的检测提供基础，为复杂粒子场测量提供技术支持。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 天津;12 |
| 申请人： | 天津大学 |
| 发明人： | 张红霞;孙金露;王晓磊;贾大功;刘铁根;张以谟 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810464419.0 |
| 公开号： | CN108801864A |
| 代理机构： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 |
| 代理人： | 李素兰 |
| 分类号： | G01N15/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/00 |
| 申请人地址： | 300072 天津市南开区卫津路92号 |
| 主权项： | 1.一种基于干涉聚焦像的透明椭球粒子转向判别方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤(1)、利用干涉粒子成像系统，获取透明椭球粒子的干涉聚焦像；步骤(2)、标出干涉聚焦像亮点分布方向；步骤(3)、作沿着干涉聚焦像亮点分布方向的垂轴对称线，干涉聚焦像亮点分布方向的垂轴对称线方向为获取到的透明椭球粒子转向。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
