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基于自相关的干涉离焦像散斑转向判别方法
| 专利名称： | 基于自相关的干涉离焦像散斑转向判别方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于自相关的干涉离焦像散斑转向判别方法，该方法包括以下步骤：步骤(1)、利用干涉粒子成像系统，获取任意转向下透明椭球粒子的干涉离焦像；步骤(2)、利用MATLAB对干涉离焦像进行自相关处理，对自相关处理的结果图像进行二值化处理，得到自相关处理的中心亮斑；步骤(3)、利用椭圆圈出亮斑，沿椭圆长轴方向画线得到亮斑转向；步骤(4)、步骤(3)中的亮斑转向即干涉离焦像散斑转向。本发明可以实现粒子干涉离焦像的散斑转向判别，进而实现粒子的转向判别，为复杂粒子场测量提供技术支持。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 天津;12 |
| 申请人： | 天津大学 |
| 发明人： | 张红霞;孙金露;王晓磊;贾大功;刘铁根 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811037322.8 |
| 公开号： | CN109187316A |
| 代理机构： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 |
| 代理人： | 李素兰 |
| 分类号： | G01N15/14(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 300072 天津市南开区卫津路92号 |
| 主权项： | 1.一种基于自相关的干涉离焦像散斑转向判别方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤(1)、利用干涉粒子成像系统，获取任意转向下透明椭球粒子的干涉离焦像；步骤(2)、利用MATLAB对干涉离焦像进行自相关处理，对自相关处理的结果图像进行二值化处理，得到自相关处理的中心亮斑；步骤(3)、利用椭圆圈出亮斑，沿椭圆长轴方向画线得到亮斑转向；步骤(4)、步骤(3)中的亮斑转向即干涉离焦像散斑转向。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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