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一种基于交流法测量低维微纳材料热导率的方法
| 专利名称： | 一种基于交流法测量低维微纳材料热导率的方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于交流方法测量低维微纳材料热导率的方法，采用微加工工艺提前制备好测量电极，测量时只需将待测材料样品悬空搭在测量电极上并保持紧密接触，采用交流电加热和测量，避免了环境因素及衬底材料的影响，测量精度高。另外能够弥补现有测量方法在测量薄膜面向热导的不足，且测量样品种类宽泛，包括各类绝缘、导电及半导体二维薄膜、一维线材，也可以是宏观的丝状或片状材料，根据电极材料的耐温不同，测量温度范围可以为‑196～1500℃。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国科学院工程热物理研究所 |
| 发明人： | 郑兴华;杨啸;陈海生;杨征;王亮 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811028142.3 |
| 公开号： | CN109142433A |
| 分类号： | G01N25/20(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25 |
| 申请人地址： | 100190 北京市海淀区北四环西路11号 |
| 主权项： | 1.一种基于交流方法测量低维微纳材料热导率的方法，其特征在于，所述测量方法包括如下步骤：SS1：制备测量电极，所述测量电极包括至少两组电极引脚，其中一组电极引脚用于加热，其余各组电极引脚用于测量；SS2：将待测材料样品用转移膜转移至所述测量电极上；SS3：将所述测量电极的每一组电极引脚分别与一个谐波测量单元的引线端相接；SS4：将所述测量电极连同待测材料样品置于真空腔中；SS5：利用各谐波测量单元分别测量各组电极引脚的电阻，继而电阻和温度之间的对应关系，分别得出各电极引脚的温度；SS6：为了获得准确的通过待测材料样品的加热功率，减小测量误差，重复步骤SS1、3～5，测量无待测材料样品时所述测量电极各电极引脚的温度，测量时应保证加热电极的加热温度与带有待测材料样品测量时的加热温度相同，并分别记录两次测量的加热功率P1和P2；SS7：根据如下公式所示的傅里叶导热定律，直接计算得到所述待测材料样品的热导率： |
| 所属类别： | 发明专利 |
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