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X射线衍射测量中的测量结果的显示方法
| 专利名称： | X射线衍射测量中的测量结果的显示方法 |
| 摘要： | 目的是能够在视觉上明确且准确地识别德拜环的周向上的X射线信息与2θ角度位置的对应关系。本发明提供一种X射线衍射测量中的测量结果的显示方法，X射线衍射测量是向试样照射X射线并用X射线检测器检测由该试样衍射的X射线的测量，基于X射线检测器的输出数据，在坐标内，显示2θ－I分布图，从而形成一维衍射分布图，坐标在正交坐标轴的一个上取2θ角度值，在正交坐标轴的另一个上取X射线强度值；基于X射线检测器的输出数据，将由试样衍射的X射线按照2θ角度形成的多个德拜环的周向上的X射线强度数据按照2θ角度值以直线状显示，从而形成二维衍射图案；将二维衍射图案和一维衍射分布图以两者的2θ角度值相互一致的方式排列显示。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 株式会社理学 |
| 发明人： | 佐佐木明登;姬田章宏;池田由纪子;长尾圭悟 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201810996814.3 |
| 公开号： | CN109425626A |
| 代理机构： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
| 代理人： | 朱美红;刘林华 |
| 分类号： | G01N23/207(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 日本东京都 |
| 主权项： | 1.一种X射线衍射测量中的测量结果的显示方法，所述X射线衍射测量是向试样照射X射线并用X射线检测器检测由该试样衍射的X射线的测量，所述X射线衍射测量中的测量结果的显示方法的特征在于，基于前述X射线检测器的输出数据，在坐标内，显示2θ－I分布图，从而形成一维衍射分布图，所述坐标在正交坐标轴的一个上取2θ角度值，在正交坐标轴的另一个上取X射线强度值；基于前述X射线检测器的输出数据，将多个德拜环的周向上的X射线强度数据按照2θ角度值以直线状显示，从而形成二维衍射图案，所述多个德拜环是由试样衍射的X射线按照2θ角度形成的；将前述二维衍射图案和前述一维衍射分布图以两者的2θ角度值相互一致的方式排列显示。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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