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一种液晶面板缺陷检测方法及其系统
| 专利名称： | 一种液晶面板缺陷检测方法及其系统 |
| 摘要： | 本发明公开了一种液晶面板缺陷检测方法及其系统。液晶面板缺陷检测方法包括步骤：基准图像制作，待检测液晶面板图像制作，识别待检测液晶面板各区域，鉴别缺陷，以及统计缺陷像素数量。液晶面板缺陷检测系统包括API检测装置、拍照镜头、马达、背光区和支撑结构，其中拍照镜头包括偏光片、感光元件。本发明的检测方及其系统，可自动进行过曝拍照和图像对比检测，同时能实现毛刺检查机台所有功能，从而通过仅增加少量生产节拍就能实现液晶面板缺陷检测工序，有效减少整体生产周期，降低设备成本和人力成本，检测准确率更加可控，从而提高检测可靠性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 发明人： | 张沛 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811359546.0 |
| 公开号： | CN109444151A |
| 代理机构： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 |
| 代理人： | 黄威 |
| 分类号： | G01N21/88(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 518132 广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号 |
| 主权项： | 1.一种液晶面板缺陷检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：S1、基准图像制作步骤，采集基准液晶面板各区域图像，对所述图像进行几何校正及滤波处理，作为对比基准图像，通过软件透过灰阶差区分出所述采集到的各区域图像中的背光区和液晶面板区的边缘界限，记录每一区域像素灰阶值，界定各区域灰阶值范围；S2、待检测液晶面板图像制作步骤，以过曝状态采集待检测液晶面板图像，并获得各区域的灰阶值范围；S3、识别待检测液晶面板各区域步骤，将所述待检测液晶面板各区域图像与所述基准图像进行对比分析，根据所述基准图像各区域灰阶值范围识别所述待检测液晶面板图像中的各区域进而获知其背光区和液晶面板区；S4、鉴别缺陷步骤，分析识别出的所述检测液晶面板区域图像四边的直线度，并与所述基准图像相应位置作比对，当两者的差值超过预定数值时，则认为所述待检测液晶面板存在缺陷，其中所述预定数值在0.1～0.5mm范围内。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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