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超导基带表面缺陷检测系统及其检测方法
| 专利名称： | 超导基带表面缺陷检测系统及其检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种超导基带表面缺陷检测系统，包括，光源，其输出激光并照射至超导基带的待检测表面；图像采集单元，其连续采集激光被待检测表面反射后的反射光图像；图像处理单元，其接收图像采集单元输出的反射光图像，对所述反射光图像进行处理，输出超导基带的表面缺陷程度。本发明的超导基带表面缺陷检测系统，用于超导基带抛光前后对其进行表面缺陷程度的非接触式无损伤、在线、长距离、连续检测，为下道生产工艺提供可靠的基带表面质量报告，提高生产高温超导带材的合格率；同时，还可以用于确定原带质量对抛光效果的影响。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 东部超导科技（苏州）有限公司;苏州新材料研究所有限公司 |
| 发明人： | 夏金成;陆玲;周国山;沈玉军;张利华;熊旭明;程鹏;陈慧娟;蔡渊 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810934446.X |
| 公开号： | CN108827978A |
| 代理机构： | 苏州睿昊知识产权代理事务所(普通合伙) 32277 |
| 代理人： | 周媛媛;王雅群 |
| 分类号： | G01N21/892(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/892 |
| 申请人地址： | 215000 江苏省苏州市吴江经济技术开发区庞金路1801号 |
| 主权项： | 1.一种超导基带表面缺陷检测系统，其特征在于：包括，光源，其输出激光并照射至超导基带的待检测表面；图像采集单元，其连续采集激光被待检测表面反射后的反射光图像；图像处理单元，其接收图像采集单元输出的反射光图像，对所述反射光图像进行处理，输出超导基带的表面缺陷程度。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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