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基于小波域相位提取的缺陷检测方法及检测装置
| 专利名称： | 基于小波域相位提取的缺陷检测方法及检测装置 |
| 摘要： | 本发明提供一种基于小波域相位提取的缺陷检测方法及检测装置。检测方法包括：(1)设置同轴相衬成像参数，所述成像参数包括光源到待成像物体的距离L1、待成像物体到探测器的距离L2；(2)设置放射成像系统的曝光参数，获得所述放射成像系统的系统点扩散函数h(x，y)及其曲线；(3)放置待成像物体，并在所述成像参数条件下对所述待成像物体成像，获得成像结果IN(x，y)；(4)根据所述成像结果IN(x，y)对归一化相衬图像g(I)进行小波变换，获得所述归一化相衬图像g(I)的相位抽取结果；(5)根据所述相位抽取结果，计算得到所述待成像物体的相位信息图像。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 立讯精密工业(昆山)有限公司 |
| 发明人： | 周仲兴;徐加明;李水能 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-09-20T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-08-27T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201811099993.7 |
| 公开号： | CN110174422A |
| 代理机构： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 梁挥;祁建国 |
| 分类号： | G01N23/041(2018.01);G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 215324 江苏省昆山市锦溪镇锦商路东侧 |
| 主权项： | 1.一种基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤： (1)设置同轴相衬成像参数，所述成像参数包括光源到待成像物体的距离L1、待成像物体到探测器的距离L2； (2)设置放射成像系统的曝光参数，获得所述放射成像系统的系统点扩散函数h(x，y)及其曲线，其中，x，y是空间位置坐标； (3)放置待成像物体，并在所述成像参数、所述曝光参数条件下对所述待成像物体成像，获得成像结果IN(x，y)，其中，x，y是空间位置坐标； (4)根据所述成像结果IN(x，y)、所述系统点扩散函数h(x，y)对归一化相衬图像g(I)进行变换，获得所述归一化相衬图像g(I)的相位抽取结果； (5)根据所述相位抽取结果，计算得到所述待成像物体的相位信息图像； 其中，对步骤(4)中的所述归一化相衬图像进行小波变换。 2.如权利要求1所述的基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤(4)还包括： 设定小波变换尺度，通过所述小波变换，获得各个小波子带的小波系数图像。 3.如权利要求2所述的基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤(4)还包括： 根据所述小波系数图像，对所述各个小波子带进行相位抽取，获得所述各个小波子带的相位抽取结果。 4.如权利要求3所述的基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤(4)还包括： 对所述所有小波子带的所述相位抽取结果进行小波逆变换，获得相衬图像的相位抽取结果。 5.如权利要求4所述的基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于： 所述归一化相衬图像g(I)为通过所述小波变换，获得各个小波子带的小波系数图像其中，a，b∈{L，H}，分别表示水平、垂直、对角和概貌小波系数，J为所述小波尺度。 6.如权利要求5所述的基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于： 采用公式对各个所述小波子带进行所述相位抽取；其中，由各个小波子带的信噪比决定；MTF(u，v)为所述系统点扩散函数h(x，y)的傅里叶变换；*号表示求共轭复数；α表示松弛因子，根据所述待成像物体的组成成份进行估计；u、v分别为横轴和纵轴方向的空间频率，λ为所述光源发射的X射线波长。 7.如权利要求6所述的基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤(1)还包括： 设置所述光源到所述待成像物体的所述距离L1为200cm，所述待成像物体到所述探测器的所述距离L2为100cm。 8.如权利要求7所述的基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤(2)还包括： 通过放置刀口器具在所述待成像物体的平面位置，连续采集m幅图像，从每幅所述图像获取不同位置的刀口截面曲线n条，而后将m*n条所述刀口截面曲线进行平均，再对平均曲线求导数，获得所述放射成像系统的系统点扩散函数h(x，y)及其曲线。 9.如权利要求8所述的基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于，m为15，n为50。 10.如权利要求1所述的基于小波域相位提取的缺陷检测方法，其特征在于，所述待成像物体采用气泡裂纹仿体。 11.一种基于小波域相位提取的缺陷检测装置，其特征在于，包括： 放射成像系统以及图像变换模块； 所述放射成像系统包括光源、探测器以及参数设置模块，所述光源用于向待成像物体提供光源，所述探测器用于将待成像物体进行成像；所述参数设置模块，用于设置同轴相称成像参数及所述放射成像系统的曝光参数； 其中，所述图像变换模块根据所述成像结果对归一化相衬图像进行变换，获得所述归一化相衬图像的相位抽取结果，并根据所述相位抽取结果，计算得到所述待成像物体的相位信息图像。 12.如权利要求11所述的基于小波域相位提取的缺陷检测装置，其特征在于，所述图像变换模块包括小波变换单元，所述小波变换单元通过设定小波变换尺度，对所述归一化相衬图像进行小波变换，获得各个小波子带的小波系数图像。 13.如权利要求12所述的基于小波域相位提取的缺陷检测装置，其特征在于，所述图像变换模块包括相位抽取单元，所述相位抽取单元根据所述小波系数图像，对所述各个小波子带进行相位抽取，获得所述各个小波子带的相位抽取结果。 14.如权利要求13所述的基于小波域相位提取的缺陷检测装置，其特征在于，所述图像变换模块包括小波逆变换单元，所述小波逆变换单元对所述所有小波子带的所述相位抽取结果进行小波逆变换，获得相衬图像的相位抽取结果。 15.如权利要求14所述的基于小波域相位提取的缺陷检测装置，其特征在于： 所述小波变换单元对所述归一化相衬图像进行小波变换，获得各个小波子带的小波系数图像其中，a，b∈{L，H}，分别表示水平、垂直、对角和概貌小波系数，J为所述小波尺度。 16.如权利要求15所述的基于小波域相位提取的缺陷检测装置，其特征在于： 所述相位抽取单元采用公式对各个所述小波子带进行相位抽取；其中，由各个小波子带的信噪比决定；MTF(u，v)为所述系统点扩散函数h(x，y)的傅里叶变换；*号表示求共轭复数；α表示松弛因子，根据所述待成像物体的组成成份进行估计；u、v分别为横轴和纵轴方向的空间频率，λ为所述光源发射的X射线波长。 17.如权利要求16所述的基于小波域相位提取的缺陷检测装置，其特征在于，所述同轴相称成像参数包括所述光源到所述待成像物体的距离L1，所述待成像物体到所述探测器的距离L2，其中，L1为200cm，L2为100cm。 18.如权利要求17所述的基于小波域相位提取的缺陷检测装置，其特征在于，通过放置刀口器具在所述待成像物体的平面位置，连续采集m幅图像，从每幅所述图像获取不同位置的刀口截面曲线n条，而后将m*n条所述刀口截面曲线进行平均，再对平均曲线求导数，所述图像变换模块获得所述放射成像系统的系统点扩散函数h(x，y)及其曲线。 19.如权利要求18所述的基于小波域相位提取的缺陷检测装置，其特征在于，m为15，n为50。 20.如权利要求11所述的基于小波域相位提取的缺陷检测装置，其特征在于，所述待成像物体采用气泡裂纹仿体。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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