专利名称: |
一种分析硅同位素组成的装置 |
摘要: |
本实用新型涉及稳定同位素分析技术领域,具体涉及一种分析硅同位素组成的装置。本实用新型提供的装置包括顺次连通的激光‑氟化反应装置、纯化装置和气体同位素质谱仪,其中,所述激光‑氟化反应装置包括氟化反应器和红外激光器,所述氟化反应器的顶部设置有窗口,在所述氟化反应器的窗口上方设置有所述红外激光器。本实用新型提供的装置结构简单、操作方便,红外激光器能够发射红外激光,通过氟化反应器的窗口进入氟化反应器,使盛放于氟化反应器内的含硅样品和氟化剂进行氟化反应,能够实现微量含硅样品制备SiF4气体来分析所述含硅样品中的硅同位素组成,且能够有效缩短氟化反应时间,提高分析效率。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
中国地质科学院矿产资源研究所 |
发明人: |
高建飞;丁悌平;范昌福;胡斌 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-01-17T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-09-06T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201920083572.9 |
公开号: |
CN209356446U |
代理机构: |
北京高沃律师事务所 |
代理人: |
代芳 |
分类号: |
G01N27/62(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
申请人地址: |
100000 北京市西城区百万庄大街26号 |
主权项: |
1.一种分析硅同位素组成的装置,其特征在于,包括顺次连通的激光-氟化反应装置、纯化装置和气体同位素质谱仪,其中,所述激光-氟化反应装置包括氟化反应器和红外激光器,所述氟化反应器的顶部设置有窗口,在所述氟化反应器的窗口上方设置有所述红外激光器。 2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述氟化反应器的基体材料为不锈钢,窗口材料为氟化钡晶体,窗口密封垫圈为聚四氟乙烯包覆的氟橡胶“O”型垫圈。 3.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述氟化反应器中设置有样品盘,所述样品盘的直径为20mm,材质为纯镍。 4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述样品盘上设置有24个装样孔;所述装样孔的直径为2mm,深度为1mm。 5.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述红外激光器为CO2红外激光器。 6.根据权利要求1或5所述的装置,其特征在于,所述红外激光器为MIR10型CO2红外激光器。 7.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述纯化装置包括顺次连通的第一冷阱、第二冷阱、第一锌粒管、第三冷阱、第二锌粒管、第四冷阱和冷指;其中,所述氟化反应器与所述纯化装置的第一冷阱连通,所述气体同位素质谱仪与所述纯化装置的冷指连通。 8.根据权利要求1或7所述的装置,其特征在于,所述气体同位素质谱仪为MAT-253气体同位素质谱计。 |
所属类别: |
实用新型 |