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原文传递用于检查感应式充电系统的初级单元或次级单元的方法

专利名称：	用于检查感应式充电系统的初级单元或次级单元的方法
摘要：	本发明涉及一种用于检查对电能量存储器(103)充电的感应式测试充电系统的测试次级单元(120)的方法(510)。测试充电系统包括带有测试次级线圈(121)的测试次级单元(120)和带有参考初级线圈(411)的参考初级单元(410)。所述方法(510)包括检测(511)测试充电系统的在参考初级线圈(411)上的、针对测试充电系统的运行参数(401、402、403)的值的相应的多个测试组合的多个实际初级单元阻抗值。此外，所述方法(520)包括将所述多个实际初级单元阻抗值与针对初级单元阻抗(251)的参考值域(372)相比较(512)。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	德国;DE
申请人：	宝马股份公司
发明人：	M·哈斯勒;J·克拉默;F·尼德迈尔
专利状态：	有效
申请日期：	2018-01-25T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-17T00:00:00+0800
申请号：	CN201880010314.6
公开号：	CN110248838A
代理机构：	中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人：	楼震炎
分类号：	B60L53/12(2019.01);B;B60;B60L;B60L53
申请人地址：	德国慕尼黑
主权项：	1.一种用于检查感应式测试充电系统的测试次级单元(120)的方法(510)，所述感应式测试充电系统用于对电能量存储器(103)进行充电，其中，测试充电系统包括带有测试次级线圈(121)的测试次级单元(120)和带有参考初级线圈(411)的参考初级单元(410)，其中，所述方法(510)包括： -检测(511)测试充电系统的在参考初级线圈(411)上的、针对测试充电系统的运行参数(401、402、403)的值的相应的多个测试组合的多个实际初级单元阻抗值；以及 -将所述多个实际初级单元阻抗值与针对初级单元阻抗(251)的参考值域(372)相比较(512)。 2.按照权利要求1所述的方法(510)，其中，所述运行参数(401、402、403)包括： -在所述能量存储器(103)上的充电电压(403)； -用于对所述能量存储器(103)充电的理论充电功率(401)；和/或 -在测试次级线圈(121)和参考初级线圈(411)之间的偏移位置(402)。 3.按照前述权利要求中任一项所述的方法(510)，其中， -所述针对初级单元阻抗(251)的参考值域(372)表明了参考充电系统的针对所述运行参数(401、402、403)的值的多个参考组合的初级单元阻抗值；以及 -参考充电系统包括参考初级单元(410)和带有参考次级线圈(421)的参考次级单元(420)。 4.按照权利要求3所述的方法(510)，其中， -所述运行参数(401、402、403)包括所述能量存储器(103)的理论充电功率(401)和/或在所述能量存储器(103)上的充电电压(403)；以及 -所述针对初级单元阻抗(251)的参考值域(372)与在参考次级线圈(421)上的针对理论充电功率(401)和/或充电电压(403)的不同的值的次级单元阻抗值有关。 5.按照权利要求4所述的方法(510)，其中 -所述运行参数(401、402、403)包括在参考次级线圈(421)和参考初级线圈(411)之间的偏移位置(402)； -所述针对初级单元阻抗(251)的参考值域(372)与参考次级线圈(421)和参考初级线圈(411)的针对不同偏移位置(402)的耦合参数(331)的参考值域(352)有关；以及 -针对耦合参数(331)的参考值域(352)的值尤其包括多个不同的耦合参数(331)的可能的值元组。 6.按照权利要求5所述的方法(510)，其中， -所述耦合参数(331)是参考次级线圈(421)和参考初级线圈(411)的等效电路图的、特别是T形等效电路图的参数；和/或 -所述耦合参数(331)包括初级漏感(L1-M)、次级漏感(L2-M)和/或互感(M)。 7.按照权利要求5至6中任一项所述的方法(510)，其中， -所述针对初级单元阻抗(251)的参考值域(372)针对一个次级单元阻抗值包括多个初级单元阻抗值； -所述多个初级单元阻抗值能借助耦合公式由次级单元阻抗值计算得出； -耦合公式与耦合参数(331)有关；以及 -耦合参数(331)针对多个初级单元阻抗值取来自针对耦合参数(331)的参考值域(352)的相应的多个值。 8.按照前述权利要求中任一项所述的方法(510)，其中，所述测试充电系统设置用于，将用于对所述能量存储器(103)充电的实际充电功率调节到理论充电功率(401)。 9.一种用于检查感应式充电系统的测试初级单元(110)的方法(520)，所述感应式充电系统用于对电能量存储器(103)进行充电，其中，测试充电系统包括带有测试初级线圈(111)的测试初级单元和带有参考次级线圈(421)的参考次级单元(420)，其中，所述方法(520)包括： -调整(521)在参考次级线圈(421)上的次级单元阻抗(252)的多个不同的实际次级单元阻抗值；其中，所述实际次级单元阻抗值是来自针对次级单元阻抗(252)的参考值域(361)的值； -检查(522)，是否能针对所述多个不同的实际次级单元阻抗值将能量存储器(103)的实际充电功率调节到理论充电功率(401)。 10.按照权利要求9所述的方法(520)，其中， -针对在参考功率范围内的不同的理论充电功率(401)，和/或 -针对在参考偏移范围内的在参考次级线圈(421)和测试初级线圈(111)之间的不同的偏移位置(402) 进行检查(522)。
所属类别：	发明专利