详情

原文传递图像处理装置、异物检查装置、图像处理方法以及异物检查方法

专利名称：	图像处理装置、异物检查装置、图像处理方法以及异物检查方法
摘要：	本发明提供一种图像处理装置、异物检查装置、图像处理方法以及异物检查方法。能够进行高精度的异物检查。具备背景值设定部，基于位于关注像素的附近并且相对于关注像素处于预先设定的位置关系的至少一个参照像素的第1像素值来设定视为背景值的值，将该值设定为关注像素的背景值。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	住友化学株式会社
发明人：	加集功士
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-29T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-15T00:00:00+0800
申请号：	CN201910256293.2
公开号：	CN110333254A
代理机构：	中科专利商标代理有限责任公司
代理人：	李国华
分类号：	G01N23/04(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	日本国东京都
主权项：	1.一种图像处理装置，针对拍摄了检查图像中成为背景的检查对象物与相对于背景具有对比度的异物的图像，进行图像处理，上述图像处理装置具备：存储部，对与构成上述图像的多个像素分别对应的第1像素值进行存储；像素值运算部，将上述多个像素分别设为关注像素，对该关注像素的第2像素值进行计算，其中上述第2像素值是该关注像素的第1像素值与该关注像素的背景值之差、或者该差相对于该背景值的比率；和背景值设定部，针对上述各关注像素，基于位于该关注像素的附近并且相对于该关注像素处于预先设定的位置关系的至少一个参照像素的第1像素值来设定视为背景值的值，将该值设定为该关注像素的上述背景值。 2.根据权利要求1所述的图像处理装置，其中，上述至少一个参照像素是多个参照像素。 3.根据权利要求2所述的图像处理装置，其中，上述多个参照像素包含被配置为包围对应的上述关注像素的多个像素。 4.根据权利要求2所述的图像处理装置，其中，上述多个参照像素包含在从对应的上述关注像素观察的情况下在行方向以及列方向被对称地配置的多个像素。 5.根据权利要求2所述的图像处理装置，其中，上述多个参照像素包含以对应的上述关注像素为中心n次旋转对称地配置的多个像素，n是2以上的整数。 6.根据权利要求2所述的图像处理装置，其中，上述背景值设定部将上述多个参照像素各自的第1像素值的中央值、或者除去最大值以及最小值的值之中处于预先设定的顺序的值设定为上述背景值。 7.一种异物检查装置，具备： X射线图像传感器；和权利要求1至6的任意一项所述的图像处理装置，上述存储部将由上述X射线图像传感器获取的图像的像素值存储为上述第1像素值。 8.一种图像处理方法，针对拍摄了检查图像中成为背景的检查对象物与相对于背景具有对比度的异物的图像，进行图像处理，上述图像处理方法包含：存储工序，对与构成上述图像的多个像素分别对应的第1像素值进行存储；像素值运算工序，将上述多个像素分别设为关注像素，对该关注像素的第2像素值进行计算，上述第2像素值是该关注像素的第1像素值与该关注像素的背景值的差、或者该差相对于该背景值的比率；和背景值设定工序，针对上述各关注像素，基于位于该关注像素的附近并且相对于该关注像素处于预先设定的位置关系的至少一个参照像素的第1像素值来设定视为背景值的值，将该值设定为该关注像素的上述背景值。 9.根据权利要求8所述的图像处理方法，其中，上述至少一个参照像素是多个参照像素。 10.根据权利要求9所述的图像处理方法，其中，上述多个参照像素包含被配置为包围对应的上述关注像素的多个像素。 11.根据权利要求9所述的图像处理方法，其中，上述多个参照像素包含在从对应的上述关注像素观察的情况下在行方向以及列方向被对称地配置的多个像素。 12.根据权利要求9所述的图像处理方法，其中，上述多个参照像素包含以对应的上述关注像素为中心n次旋转对称地配置的多个像素，n是2以上的整数。 13.根据权利要求9所述的图像处理方法，其中，上述背景值设定工序中，将上述多个参照像素各自的第1像素值的中央值、或者除去最大值以及最小值的值之中处于预先设定的顺序的值设定为上述背景值。 14.一种异物检查方法，包含权利要求8至13的任意一项所述的图像处理方法，在上述存储工序中，将通过X射线图像传感器而获取的图像的像素值存储为上述第1像素值。
所属类别：	发明专利