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原文传递图像处理装置、异物检查装置、图像处理方法以及异物检查方法

专利名称：	图像处理装置、异物检查装置、图像处理方法以及异物检查方法
摘要：	本发明提供一种图像处理装置、异物检查装置、图像处理方法以及异物检查方法。推断异物的立体尺寸。图像处理装置具备：存储部，对与多个像素分别对应的第1像素值进行存储；像素值运算部，在各像素中，对各第1像素值与背景值之差相对于背景值的比率、即各像素的第2像素值进行计算；和像素值累计部，对属于特定的连续区域的像素群的各第2像素值进行累计。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	住友化学株式会社
发明人：	加集功士
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-29T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-15T00:00:00+0800
申请号：	CN201910256073.X
公开号：	CN110333253A
代理机构：	中科专利商标代理有限责任公司
代理人：	李国华
分类号：	G01N23/04(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	日本国东京都
主权项：	1.一种图像处理装置，对透过包含异物的检查对象物的电磁波的图像进行图像处理，上述图像处理装置具备：存储部，对与构成上述图像的多个像素分别对应的第1像素值进行存储；像素值运算部，在上述各像素中，对与上述各第1像素值和背景值之差成正比的、上述各像素的第2像素值进行计算，上述背景值相当于不包含上述异物的检查对象物引起的衰减后的第1像素值；和像素值累计部，对属于连续区域的像素群的各第2像素值进行累计。 2.根据权利要求1所述的图像处理装置，其中，上述各像素的第2像素值是上述各像素中的、上述各第1像素值与上述背景值之差相对于该背景值的比率。 3.根据权利要求1或2所述的图像处理装置，其中，上述像素值累计部将上述多个像素分别设为关注像素，对属于包含该关注像素的上述连续区域的像素群的各第2像素值进行累计。 4.根据权利要求1至3的任意一项所述的图像处理装置，其中，上述像素值累计部对具有表示衰减量大于阈值的值的第2像素值、并且形成连续区域的多个像素各自的第2像素值进行累计。 5.一种异物检查装置，具备：权利要求1至4的任意一项所述的图像处理装置。 6.一种图像处理方法，对透过包含异物的检查对象物的电磁波的图像进行图像处理，上述图像处理方法包含：存储工序，对与构成上述图像的多个像素分别对应的第1像素值进行存储；像素值运算工序，在上述各像素中，对与上述各第1像素值和背景值之差成正比的、上述各像素的第2像素值进行计算，上述背景值相当于不包含上述异物的检查对象物引起的衰减后的第1像素值；和像素值累计工序，对属于连续区域的像素群的各第2像素值进行累计。 7.根据权利要求6所述的图像处理方法，其中，上述各像素的第2像素值是上述各像素中的、上述各第1像素值与上述背景值之差相对于该背景值的比率。 8.根据权利要求6或者7所述的图像处理方法，其中，上述像素值累计工序中，将上述多个像素分别设为关注像素，对属于包含该关注像素的上述连续区域的像素群的各第2像素值进行累计。 9.根据权利要求6至8的任意一项所述的图像处理方法，其中，上述像素值累计工序中，对具有表示衰减量大于阈值的值的第2像素值、并且形成连续区域的多个像素各自的第2像素值进行累计。 10.一种异物检查方法，包含权利要求6至9的任意一项所述的图像处理方法。
所属类别：	发明专利