专利名称: |
MEMS气体传感器和提高MEMS气体传感器稳定性的方法 |
摘要: |
本申请涉及一种MEMS气体传感器、提高MEMS气体传感器稳定性的方法和装置,属于传感器技术领域,所述MEMS气体传感器包括:基于N型掺杂半导体材料的敏感单元和基于P型掺杂半导体材料的敏感单元中的至少一种,以及,基于P型本征半导体材料的敏感单元;所述基于N型掺杂半导体材料的敏感单元用于检测氧化性气体;所述基于P型掺杂半导体材料的敏感单元用于检测还原性气体;所述基于P型本征半导体材料的敏感单元的电气特性稳定,用于修正所述基于N型掺杂半导体材料的敏感单元和/或所述基于P型掺杂半导体材料的敏感单元的电性漂移。有效提高长期稳定性,延长传感器的使用寿命。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京机械设备研究所 |
发明人: |
刘宇航;刘秀洁;许诺;汪晓军 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-07-12T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-10-22T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910630446.5 |
公开号: |
CN110361423A |
代理机构: |
北京云科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) |
代理人: |
张飙 |
分类号: |
G01N27/12(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
申请人地址: |
100854 北京市海淀区永定路50号(北京市142信箱208分箱) |
主权项: |
1.一种MEMS气体传感器,其特征在于,所述MEMS气体传感器包括:基于N型掺杂半导体材料的敏感单元和基于P型掺杂半导体材料的敏感单元中的至少一种,以及,基于P型本征半导体材料的敏感单元; 所述基于N型掺杂半导体材料的敏感单元用于检测氧化性气体; 所述基于P型掺杂半导体材料的敏感单元用于检测还原性气体; 所述基于P型本征半导体材料的敏感单元的电气特性稳定,用于修正所述基于N型掺杂半导体材料的敏感单元和/或所述基于P型掺杂半导体材料的敏感单元的电性漂移。 2.根据权利要求1所述的MEMS气体传感器,其特征在于,所述基于N型掺杂半导体材料的敏感单元有至少两个。 3.根据权利要求1所述的MEMS气体传感器,其特征在于,所述基于P型掺杂半导体材料的敏感单元有至少两个。 4.根据权利要求1所述的MEMS气体传感器,其特征在于,所述基于P型本征半导体材料的敏感单元有至少两个。 5.根据权利要求1至4任一所述的MEMS气体传感器,其特征在于,所述MEMS气体传感器还包括配套功能单元,所述配套功能单元包括电路单元。 6.一种提高MEMS气体传感器稳定性的方法,其特征在于,所述MEMS气体传感器如权利要求1至5任一所述,所述方法包括: 封装包括基于N型掺杂半导体材料的敏感单元和基于P型掺杂半导体材料的敏感单元中的至少一种,以及,基于P型本征半导体材料的敏感单元的所述MEMS气体传感器。 7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在所述MEMS气体传感器仅需检测氧化性气体时,所述封装包括基于N型掺杂半导体材料的敏感单元和基于P型掺杂半导体材料的敏感单元中的至少一种,以及,基于P型本征半导体材料的敏感单元的所述MEMS气体传感器,包括: 封装包括所述基于N型掺杂半导体材料的敏感单元和所述基于P型本征半导体材料的敏感单元的所述MEMS气体传感器。 8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在所述MEMS气体传感器仅需检测还原性气体时,所述封装包括基于N型掺杂半导体材料的敏感单元和基于P型掺杂半导体材料的敏感单元中的至少一种,以及,基于P型本征半导体材料的敏感单元的所述MEMS气体传感器,包括: 封装包括所述基于P型掺杂半导体材料的敏感单元和所述基于P型本征半导体材料的敏感单元的所述MEMS气体传感器。 9.一种提高MEMS气体传感器稳定性的装置,其特征在于,所述装置包括存储器和处理器,所述存储器中存储有至少一条程序指令,所述处理器通过加载并执行上述指令以实现如权利要求6至8任一所述的方法。 |
所属类别: |
发明专利 |