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原文传递 集成电路试验处理装置的器件传送机构
专利名称: 集成电路试验处理装置的器件传送机构
摘要: 一种IC试验处理装置的器件传送机构,包括圆环轨道转台,它具有多个槽,用来在盘形转台上以几件为单位存储器件,以及至少三个臂,其中的每个臂具有接触臂,其上带有吸力部分,在每个臂的末端以几件为单位吸住器件。可附带地提供转动存储臂,借助于设置多个臂来传送器件,所述多个臂的每个臂的末端具有槽,用来以几件为单位存储器件71。
专利类型: 发明专利
申请人: 株式会社爱德万测试
发明人: 高桥弘行; 铃木∴平
专利状态: 有效
申请日期: 1995-09-26T00:00:00+0800
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN95117241.7
公开号: CN1156829
代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人: 马浩
分类号: G01R31/28
申请人地址: 日本东京
所属类别: 发明专利
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