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原文传递 半导体集成电路器件的制造方法
专利名称: 半导体集成电路器件的制造方法
摘要: 通过在洁净室的地板上铺设的传送轨道(3)上以高速直线行驶的RGV(轨导向车),执行洁净室的间隔(设备组)内的晶片的传送。采用一种结构,其中通过分隔间(隔壁)(4)将一个RGV在其上行驶的传送区与人员工作区分开,并且在生产线操作时人员不进入传送区。
专利类型: 发明专利
申请人: 株式会社瑞萨科技
发明人: 若林隆之;内野敏幸;木口保雄;小池淳义
专利状态: 有效
申请日期: 2002-04-04T00:00:00+0800
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN02808425.X
公开号: CN1533601
代理机构: 北京市金杜律师事务所
代理人: 王茂华
分类号: H01L21/68
申请人地址: 日本东京都
所属类别: 发明专利
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