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半导体器件用托盘取出装置和半导体器件用托盘收存装置
| 专利名称： | 半导体器件用托盘取出装置和半导体器件用托盘收存装置 |
| 摘要： | 一种能够从托盘收存容器中自动地取出搭载有被试验ＩＣ的托盘并供给ＩＣ试验装置的托盘取出装置，和能够把托盘收存到托盘收存容器中的托盘收存装置。用第一连接钩支承托盘，把升降装置抵接于托盘底面并解除第一连接钩的接合，同时把第二连接钩移动到接合位置；使升降装置下降并用第二连接钩支承托盘，在该状态下使第一连接钩与倒数第二个托盘接合，同时把第二连接钩移动到非接合位置，且使升降装置下降而只取出最底层的一个托盘。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 株式会社爱德万测试 |
| 发明人： | 中村浩人 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 1998-04-17T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN98114957.X |
| 公开号： | CN1203884 |
| 代理机构： | 柳沈知识产权律师事务所 |
| 代理人： | 李晓舒 |
| 分类号： | B65G49/00 |
| 申请人地址： | 日本东京都 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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