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原文传递一种材料介电张量测量方法

专利名称：	一种材料介电张量测量方法
摘要：	本发明属于材料基础物理特性研究领域，并具体公开了一种材料介电张量测量方法，其首先由预设待测材料介电张量初始值ε(E)确定偏转换矩阵Tp和透射矩阵Tt，进而由偏转换矩阵Tp、透射矩阵Tt和入射矩阵Ti得到待测材料表面电磁波的传输矩阵；然后由该传输矩阵Tm确定待测材料理论穆勒矩阵谱MMCal(E)，将该理论穆勒矩阵谱MMCal(E)与待测材料测量穆勒矩阵谱MMExp(E)进行拟合分析，从而得到待测材料的介电张量。该介电张量计算方法基于一般性理论，操作流程清晰明了，获取结果全面可靠，适用于求解各类材料的介电张量。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖北;42
申请人：	华中科技大学
发明人：	谷洪刚;宋宝坤;刘世元;郭正峰;方明胜;江浩;陈修国
专利状态：	有效
申请日期：	2019-08-26T00:00:00+0800
发布日期：	2019-12-20T00:00:00+0800
申请号：	CN201910792395.6
公开号：	CN110596011A
代理机构：	华中科技大学专利中心
代理人：	李智;张彩锦
分类号：	G01N21/21(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
所属类别：	发明专利