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原文传递一种显示屏缺陷高精度检测方法及系统

专利名称：	一种显示屏缺陷高精度检测方法及系统
摘要：	本申请公开一种显示屏缺陷高精度检测方法及系统，方法包括获取全局图像，确定缺陷区域；提取缺陷区域的亮暗信息；拍摄缺陷位置在不同层的对焦图像，确定缺陷所在的具体层位置；根据检测基准对缺陷进行不良品判定；系统包括低精度灰度相机，处理器，高精度彩色相机及显示器；本申请的方法及系统通过高精度彩色相机对缺陷位置局部进行高精度拍摄，可实现缺陷位置局部的子像素级图像处理，同时引入模拟点度量标准来判定亮点亮度，通过对不良程度进行精确量化，保证与实际检测标准对比后检测出的缺陷正确，避免误检。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	凌云光技术集团有限责任公司
发明人：	高敏;姚毅;解三霞;路建伟;马增婷
专利状态：	有效
申请日期：	2019-01-28T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-14T00:00:00+0800
申请号：	CN201910081145.1
公开号：	CN109752394A
代理机构：	北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	逯长明;许伟群
分类号：	G01N21/956(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	100094 北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室
主权项：	1.一种显示屏缺陷高精度检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取全局图像，确定缺陷区域；提取缺陷区域的亮暗信息；拍摄缺陷位置在不同层的对焦图像，确定缺陷所在的具体层位置；根据检测基准对缺陷进行不良品判定。 2.根据权利要求1所述的一种显示屏缺陷高精度检测方法，其特征在于，当缺陷是暗点缺陷时，所述根据检测基准对缺陷进行不良品判定包括：分析缺陷的连接形态；若缺陷的连接形态为距离暗点，则判定为良品；若缺陷的连接形态为二连暗点，则判定为不良品。 3.根据权利要求1所述的一种显示屏缺陷高精度检测方法，其特征在于，当缺陷是亮点缺陷时，所述根据检测基准对缺陷进行不良品判定包括：分析缺陷的颜色并计算亮度，得到第一亮度值；根据缺陷的颜色拍摄相同颜色的模拟点图像，并计算模拟点图像的亮度，得到第二亮度值；将第一亮度值与第二亮度值进行比较；若第一亮度值大于第二亮度值，则判定为不良品；若第一亮度值小于或等于第二亮度值，则判定为良品。 4.根据权利要求1所述的一种显示屏缺陷高精度检测方法，其特征在于，当缺陷是异物缺陷时，所述根据检测基准对缺陷进行不良品判定包括：设定理论异物尺寸阈值；计算实测异物尺寸并进行形态学分析；将实测异物尺寸与理论异物尺寸阈值进行比较；若实测异物尺寸超出理论异物尺寸阈值，则判定为不良品。 5.根据权利要求4所述的一种显示屏缺陷高精度检测方法，其特征在于，所述理论异物尺寸阈值包括宽度阈值、面积阈值、外廓阈值；所述将实测异物尺寸与理论异物尺寸阈值进行比较包括：将实测异物尺寸中的宽度值、面积值、外廓值分别与理论尺寸阈值进行比较，若其中任意一项超出理论异物尺寸阈值，则判定为不良品。 6.根据权利要求1所述的一种显示屏缺陷高精度检测方法，其特征在于，所述拍摄缺陷位置在不同层的对焦图像包括：拍摄缺陷位置在液晶层的图像；拍摄缺陷位置在虚焦N层的图像；拍摄缺陷位置在虚焦-N层的图像。 7.根据权利要求1所述的一种显示屏缺陷高精度检测方法，其特征在于，所述亮暗信息包括亮暗点个数、连接形态及异物图像。 8.一种显示屏缺陷高精度检测系统，其特征在于，所述检测系统包括低精度灰度相机，处理器，高精度彩色相机及显示器；所述低精度灰度相机，用于从待检测显示屏获取全局图像，并将全局图像发送至处理器；所述处理器，用于根据全局图像，确定缺陷区域，并提取缺陷区域的亮暗信息；所述高精度彩色相机，用于拍摄缺陷位置在不同层的对焦图像，并将对焦图像发送至处理器；所述处理器还用于根据对焦图像确定缺陷所在的具体层位置；根据检测基准对缺陷进行不良品判定；所述显示器，用于显示全局图像、缺陷区域及不良品判定结果。
所属类别：	发明专利