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一种等离子体双温的光学测量方法
| 专利名称： | 一种等离子体双温的光学测量方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种等离子体双温的光学测量方法，属于光学测量技术领域。首先采用双波长光学检测方法，通过两个探测波长λ1、λ2，分别测量出被测等离子体的折射率分布；然后通过式得到等离子体的一次电离度α1；最后，通过式得到等离子体电子的温度Te，再通过双温折射率模型或得到气体和离子的温度Tg。本发明将光学方法引入到等离子体的双温测量中，具有实时、稳定性好、抗干扰能力强、对温度的测量精度高等优点。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 南京信息工程大学 |
| 发明人： | 陈云云;郑改革;赵德林;刘博 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-01-11T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-05-17T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910030364.7 |
| 公开号： | CN109765201A |
| 代理机构： | 南京钟山专利代理有限公司 |
| 代理人： | 戴朝荣 |
| 分类号： | G01N21/41(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 210044 江苏省南京市江北新区宁六路219号 |
| 主权项： | 1.一种等离子体双温的光学测量方法，其特征在于：包括以下步骤： (1)建立等离子体双温折射率模型 首先，将等离子体的折射率n描述为： 其中，L是洛希密脱常数(2.687×1019cm-3)，A和B是与流场中中性粒子种类有关的常数，Nn、Ni和Ne分别代表流场中中性粒子(原子或分子)、离子和电子数密度(cm-3)，λ是探测波长； 然后，通过如下等离子体的电离度与温度、压强的关系式： 其中，α1和P分别代表一次电离度和等离子体的压强，K1(Te)是在电子温度Te下的平衡常数； 结合如下压强与气体和离子的温度关系式： 其中，Nn0是最初的中性粒子数密度，Tg是气体和离子的温度，κ是玻尔兹曼常数； 得到如下中性粒子数密度与电子温度、气体和离子温度、压强关系式： 最终，得到如下等离子体的双温折射率模型： (2)获得等离子体双温 首先，采用双波长光学检测方法，通过两个探测波长λ1、λ2，分别测量出被测等离子体的折射率分布； 然后，通过下式得到等离子体的一次电离度α1： 最后，通过如下等离子体的电离度与温度和压强的关系式，得到等离子体电子的温度Te： 其中，α1和P分别代表的是一次电离度和等离子体的压强，K1(Te)是在电子温度Te下的平衡常数； 再通过如下任意等离子体的双温折射率模型，得到气体和离子的温度Tg： |
| 所属类别： | 发明专利 |
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