专利名称: |
光学检测方法 |
摘要: |
本发明公开了一种光学检测方法,用以检测一透光对象上是否存在瑕疵,该光学检测方法包含:提供一光源模块及一影像撷取模块,透光对象配置于光源模块及影像撷取模块之间,光源模块提供光束以照射透光对象,其中影像撷取模块具有一受光轴;提供一遮光片并配置遮光片于光源模块及透光对象之间,以遮蔽该光源模块提供的部分光束;由影像撷取模块的其中一侧面观测,受光轴与遮光片的一侧缘之间的间隙距离的变动不大于±1mm。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
中国台湾;71 |
申请人: |
鹤立精工股份有限公司 |
发明人: |
李彭荣 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2017-11-14T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-05-21T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201711124552.3 |
公开号: |
CN109781743A |
代理机构: |
北京汇泽知识产权代理有限公司 |
代理人: |
程殿军 |
分类号: |
G01N21/896(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
中国台湾新北市中和区中正路500号2楼之5 |
主权项: |
1.一种光学检测方法,用以检测一透光对象上是否存在瑕疵,其特征在于,所述光学检测方法包含: 提供一光源模块及一影像撷取模块,所述透光对象配置于所述光源模块及所述影像撷取模块之间,所述光源模块提供光束以照射所述透光对象,其中所述影像撷取模块具有一受光轴;提供一遮光片;以及 配置所述遮光片,使所述遮光片位于所述光源模块及所述透光对象之间,以遮蔽所述光源模块提供的部分光束,其中,由所述影像撷取模块的其中一侧面观测,所述受光轴与所述遮光片的一侧缘之间的间隙距离的变动不大于±1mm。 2.如权利要求1所述的光学检测方法,其特征在于,还包含:配置所述遮光片,使所述遮光片与所述光源模块之间的垂直距离小于所述遮光片与所述透光对象之间的垂直距离。 3.如权利要求1所述的光学检测方法,其特征在于,其中由所述侧面观测,所述遮光片经配置以至少遮蔽所述受光轴左侧或右侧的部分光束。 4.如权利要求3所述的光学检测方法,其特征在于,其中所述受光轴贯穿所述遮光片。 5.一种光学检测方法,用以检测一透光对象上是否存在瑕疵,其特征在于,所述光学检测方法包含: 提供一光源模块及一影像撷取模块,所述透光对象配置于所述光源模块及所述影像撷取模块之间,其中所述光源模块提供一光束,所述影像撷取模块具有一受光轴; 提供一遮光片,所述遮光片具有一狭缝;以及 配置所述遮光片,使所述遮光片位于所述光源模块及所述影像撷取模块之间,由所述影像撷取模块的其中一侧面观测,所述受光轴贯穿所述遮光片,以遮蔽所述光源模块提供的部分光束。 6.如权利要求5所述的光学检测方法,其特征在于,还包含:配置所述遮光片,使所述遮光片与所述光源模块之间的垂直距离小于所述遮光片与所述透光对象之间的垂直距离。 7.如权利要求5所述的光学检测方法,其特征在于,其中所述受光轴贯穿所述遮光片形成有所述狭缝的一前缘或一后缘。 8.如权利要求7所述的光学检测方法,其特征在于,其中所述受光轴与所述遮光片的所述前缘或所述后缘之间的距离为1~3mm。 9.如权利要求5所述的光学检测方法,其特征在于,其中所述狭缝的宽度越窄,所述影像撷取模块的分辨率越高。 10.如权利要求5所述的光学检测方法,其特征在于,其中所述狭缝的宽度为1~3mm。 |
所属类别: |
发明专利 |