专利名称: |
一种电子束图像的水果表面缺陷检测方法 |
摘要: |
本发明涉及农产品无损检测领域,尤其是一种电子束图像的水果表面缺陷检测方法。首先建立水果表面缺陷等级模型,依次采集表面不同缺陷等级的水果的电子束辐照图像,将图像转化为特征参数导入系统内作为对比样本;对实测水果进行检测:首先用电子束辐照待测水果表面,用信号检测系统接收到待测水果在电子束作用下产生的物理信号,再经过视频放大系统显像,获得样品至少6个面的特征参数;将实测水果的特征参数与对比样本比较,预测实测水果的表面缺陷等级。该方法通过电子束辐照水果表面,激发出各种物理信息,通过对这些信息的接收、放大和显示成像,获得水果表面形貌的观察。本发明能够实现无损检测,且无需人工判断,易于操作,适用范围广。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
浙江;33 |
申请人: |
湖州灵粮生态农业有限公司 |
发明人: |
梁志杰;江志安;毛浩 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-03-19T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-05-31T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910206077.7 |
公开号: |
CN109827983A |
代理机构: |
北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
张强 |
分类号: |
G01N23/2251(2018.01);G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
314500 浙江省湖州市湖州南太湖高新技术产业园区大钱村张家浒自然村 |
主权项: |
1.一种电子束图像的水果表面缺陷检测方法,其特征在于,包括如下步骤: 录入样品特征值:选取一组成熟度为已知的水果为样品,用电子束辐照每个样品,获取样品至少6个面的特征参数,依次将样品划分水果表面缺陷等级数,将特征参数录入系统内作为对比数据; 对实测水果进行检测:首先用电子束辐照待测水果表面,调整电子束能量与辐照角度,使得低能电子束能够大部分射入水果内部,用信号检测系统接收到待测水果在电子束作用下产生的物理信号,再经过视频放大系统显像,获得样品至少6个面的特征参数; 将实测水果的特征参数与对比数据相比,预测出实测水果的水果表面缺陷等级; 其中,待测水果测试之前在水果周围贴上导电胶; 其中,电子束辐照环境为真空条件下。 2.根据权利要求1所述的一种电子束图像的水果表面缺陷检测方法,其特征在于,所述水果按照水果表面缺陷分为至少6个等级。 3.根据权利要求1所述的一种电子束图像的水果表面缺陷检测方法,其特征在于,所述水果放入样品室经过电子束辐照,样品室主要部件是样品台,能够进行三维空间的移动,还能倾斜和转动,样品台移动范围一般可达到20厘米,倾斜范围至少在50度左右,转动360度。 4.根据权利要求1所述的一种电子束图像的水果表面缺陷检测方法,其特征在于,所述特征参数至少包括6个面的显像图:上面、下面、左面、右面、前面和后面。 5.根据权利要求1所述的一种电子束图像的水果表面缺陷检测方法,其特征在于,所述电子束能量范围为0.5-5.0 KV,能量密度0.1-0.5J/m2。 |
所属类别: |
发明专利 |