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原文传递一种基于CCD视觉针对不同封装芯片的快速检测方法

专利名称：	一种基于CCD视觉针对不同封装芯片的快速检测方法
摘要：	本发明公开了一种基于CCD视觉针对不同封装芯片的快速检测方法，所述具体步骤如下：打开LABVIEW上位机软件，进行系统设置，并进行通讯参数的设置；通过CCD采集的图片在上位机软件Labview上制作一个标准的IC模板；吸取来料IC或直接对成品料进行检测时，CCD对IC进行信息采集后与模板进行比对得出IC的状态；打开自动接收指令6后可以将OK或NG传输到PLC；所述LABVIEW上位机软件的操作界面包括类别选择、系统相机位置、串口选择、保存配置和退出系统五个选项，所述类别选择位于操作界面的一侧。本发明解决了对大量IC进行检测时人力的繁重工作量以及漏检的可能，提高了效率和质量。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳市卓精微智能机器人设备有限公司
发明人：	王元登;姜胜林;赵俊;周元登;范旭阳
专利状态：	有效
申请日期：	2018-09-13T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-04T00:00:00+0800
申请号：	CN201811068533.8
公开号：	CN109839389A
代理机构：	深圳市徽正知识产权代理有限公司
代理人：	李想
分类号：	G01N21/95(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	518000 广东省深圳市宝安区福永街道福围社区第二工业区A4号201
主权项：	1.一种基于CCD视觉针对不同封装芯片的快速检测方法，其特征在于，所述具体步骤如下： ①、打开LABVIEW上位机软件，进行系统设置，并进行通讯参数的设置； ②、通过CCD采集的图片在上位机软件Labview上制作一个标准的IC模板； ③、吸取来料IC或直接对成品料进行检测时，CCD对IC进行信息采集后与模板进行比对得出IC的状态； ④、打开自动接收指令(6)后可以将OK或NG传输到PLC。 2.根据权利要求1所述的一种基于CCD视觉针对不同封装芯片的快速检测方法，其特征在于，所述步骤①中的LABVIEW上位机软件的操作界面包括类别选择(1)、系统相机位置(2)、串口选择(3)、保存配置(4)和退出系统(5)五个选项，所述类别选择(1)位于操作界面的一侧，系统相机位置(2)和串口选择(3)位于操作界面的中间，所述保存配置(4)和退出系统(5)位于另一侧，且保存配置(4)位于退出系统(5)的上方，所述系统相机位置(2)靠近类别选择(1)，所述串口选择(3)靠近保存配置(4)和退出系统(5)的一侧。 3.根据权利要求1所述的一种基于CCD视觉针对不同封装芯片的快速检测方法，其特征在于，所述步骤①中的系统设置具体步骤如下： (A)、点击类别选择(1)里的系统配置对系统相机位置(2)进行设定； (B)、再在串口选择(3)里确定配置的串口，并对其进行保存配置(4)； (C)、最后点击退出系统(5)退出。 4.根据权利要求3所述的一种基于CCD视觉针对不同封装芯片的快速检测方法，其特征在于，所述步骤(A)对系统相机位置(2)进行设定选择打开1号IC相机配置开关。 5.根据权利要求1所述的一种基于CCD视觉针对不同封装芯片的快速检测方法，其特征在于，所述步骤③中在LABVIEW上位机软件的操作界面上点击类别选择(1)的1号IC定位选项，出现比对画面，比对画面共四个部分，比对画面第一部分(7)为比对采集图片信息，比对画面第二部分(8)为标准模板，比对画面第三部分(9)为像素设置，比对画面第四部分(10)为比对具体信息。 6.根据权利要求1所述的一种基于CCD视觉针对不同封装芯片的快速检测方法，其特征在于，所述步骤④中自动接收指令(6)位于比对画面的上端中间位置。 7.根据权利要求1所述的一种基于CCD视觉针对不同封装芯片的快速检测方法，其特征在于，所述步骤③中CCD对IC进行信息采集后与模板进行比对得出IC的状态包括管脚、角度、点位等信息。
所属类别：	发明专利