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原文传递检查装置、检查方法以及非接触式传感器

专利名称：	检查装置、检查方法以及非接触式传感器
摘要：	提供非接触式传感器(10)以及使用其的检查方法，通过激励线圈(13)、第一检测线圈(11)以及第二检测线圈(12)构成磁回路，并且将第一检测线圈(11)和第二检测线圈(12)在磁回路上对称地构成。检查装置(20)包括：第一输入部(21)，被输入来自第一检测线圈(11)的信号；第二输入部(22)，被输入来自第二检测线圈(12)的信号；差计算部(23)，计算来自第一输入部(21)的第一信号与来自第二输入部(22)的第二信号的差；信号处理部(24)，对通过差计算部(23)计算出的差信号进行处理；以及振荡部(25)，生成对激励线圈(13)的激励信号以及对信号处理部(24)的参照信号，能够高灵敏度且简便地判断有无检查对象物、与成为基准的标准的物体的异同等。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	长野县
发明人：	小口京吾;小松隆史
专利状态：	有效
申请日期：	2016-10-13T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-28T00:00:00+0800
申请号：	CN201680083325.8
公开号：	CN109952506A
代理机构：	北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人：	宋开元
分类号：	G01N27/72(2006.01);G;G01;G01N;G01N27
申请人地址：	日本长野县
主权项：	1.一种检查装置，被安装有非接触式传感器，所述非接触式传感器包括激励线圈、第一检测线圈以及第二检测线圈，通过所述激励线圈、所述第一检测线圈以及所述第二检测线圈构成磁回路，所述第一检测线圈与所述第二检测线圈在磁回路上对称地构成，所述检查装置包括：第一输入部，被输入来自所述第一检测线圈的信号；第二输入部，被输入来自所述第二检测线圈的信号；差计算部，对来自所述第一输入部的第一信号与来自所述第二输入部的第二信号的差进行计算，信号处理部，对通过所述差计算部计算出的差信号进行处理；以及振荡部，生成对所述激励线圈的激励信号和对所述信号处理部的参照信号。 2.如权利要求1所述的检查装置，其中，所述振荡部使频率阶段性地变化而振荡。 3.如权利要求1或2所述的检查装置，其中，所述第一检测线圈与成为基准的材料磁耦合，通过成为所述基准的材料、所述第一检测线圈以及所述激励线圈构成第一磁回路，所述第二检测线圈与测量对象物磁耦合，通过所述测量对象物、所述第二检测线圈以及所述激励线圈构成第二磁回路，通过所述差计算部计算所述差，对在所述第一磁回路中流过的磁通和在所述第二磁回路中流过的磁通进行比较。 4.如权利要求1至3中任一项所述的检查装置，包括控制部，所述控制部在与外部之间进行数据的输入输出，并且对所述第一输入部、所述第二输入部、所述差计算部以及所述信号处理部进行控制。 5.一种非接触式传感器，包括激励线圈、第一检测线圈以及第二检测线圈，所述激励线圈、所述第一检测线圈以及所述第二检测线圈构成磁回路，所述第一检测线圈和所述第二检测线圈在磁回路中被对称地构成。 6.如权利要求5所述的非接触式传感器，其中，所述第一检测线圈和所述第二检测线圈相对于所述激励线圈正交地配置，所述第一检测线圈和所述第二检测线圈分别通过一个线圈或串联连接的多个线圈构成。 7.如权利要求5所述的非接触式传感器，其中，所述第一检测线圈和所述第二检测线圈相对于所述激励线圈在同一轴上配置。 8.一种检查方法，其中，使用权利要求5所述的非接触式传感器，预先使所述第一检测线圈与成为基准的材料磁耦合，使所述第二检测线圈与测量对象物磁耦合，向所述激励线圈输入激励信号，求出来自所述第一检测线圈的信号和来自所述第二检测线圈的信号的差，根据该差判断测量对象物与成为基准的材料在物性上或尺寸上是否不同。 9.如权利要求8所述的检查方法，其中，使所述激励信号的频率阶段性地变化。
所属类别：	发明专利