专利名称: |
晶圆切边控制装置、控制方法及可读存储介质 |
摘要: |
本发明公开了一种晶圆切边控制装置,包括电流监控单元和切边控制单元;所述电流监控单元,测量驱动刀头旋转的电机的输出电流值,当所述电流值超过预设电流阈值后,向所述切边控制单元发送第一位置指令。本发明实现在一个CCS周期内自动校正晶圆的切割深度,提高不同晶圆之间的切边深度的均匀性。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
上海;31 |
申请人: |
上海华力集成电路制造有限公司 |
发明人: |
曹玉荣;李虎 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2021-09-29T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2022-03-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN202111150720.2 |
公开号: |
CN114102883A |
代理机构: |
上海浦一知识产权代理有限公司 |
代理人: |
郭立 |
分类号: |
B28D5/00;B28D5/02;B;B28;B28D;B28D5;B28D5/00;B28D5/02 |
申请人地址: |
201315 上海市浦东新区康桥东路298号1幢1060室 |
主权项: |
1.一种晶圆切边控制装置,其特征在于,包括: 电流监控单元和切边控制单元; 所述电流监控单元,测量驱动刀头旋转的电机的输出电流值,当所述电流值超过预设电流阈值后,向所述切边控制单元发送第一位置指令; 所述切边控制单元接收到所述第一位置指令后,向机台发送切边指令。 2.如权利要求1所述的晶圆切边控制装置,其特征在于: 所述切边控制单元接收到所述第一位置指令后,记录刀头轴的高度值。 3.如权利要求2所述的晶圆切边控制装置,其特征在于: 所述切边控制单元在一个CCS周期内,记录每片晶圆切割时的所述刀头轴的高度值,计算所述每片晶圆与第一片晶圆切割时的所述刀头轴的高度值之差,当所述刀头轴的高度值之差超过预设差值后,所述切边控制单元发出报警指令。 4.一种晶圆切边控制方法,其特征在于,包括: 步骤S1,电流测量;测量驱动刀头旋转的电机的输出电流值,当所述电流值超过预设电流阈值后,发送第一位置指令。 步骤S2,发送切边指令;接收到所述第一位置指令后,向机台发送切边指令。 5.如权利要求4所述的晶圆切边控制方法,其特征在于: 所述步骤S2中,接收到所述第一位置指令后,记录刀头轴的高度值。 6.如权利要求5所述的晶圆切边控制方法,其特征在于: 还包括步骤S3,刀头磨耗临界报警;在一个CCS周期内,记录每片晶圆切割时的所述刀头轴的高度值,计算所述每片晶圆与第一片晶圆切割时的所述刀头轴的高度值之差,所述刀头轴的高度值之差超过预设差值后,发出报警指令。 7.一种计算机可读存储介质,其用于存储指令,其特征在于,所述指令在被执行时实现如权利要求4-6中任一项所述的晶圆切边控制方法。 |
所属类别: |
发明专利 |