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原文传递光学检测缺陷后的路径规划方法

专利名称：	光学检测缺陷后的路径规划方法
摘要：	一种光学缺陷检测后的路径规划方法，包括下列步骤(1)提供一受检物； (2)将该受检物置于一光学检测机台上；(3)以该光学检测机台扫描该受检物； (4)在该受检物上检测出数个缺陷；(5)提供一数值运算模型，得到一条连接该一个以上的缺陷位置的一路径。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	台湾;TW
申请人：	台达电子工业股份有限公司
发明人：	陈诗涌;沈家麟
专利状态：	有效
申请日期：	2008-04-29T00:00:00+0800
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN200810094668.1
公开号：	CN101571493
代理机构：	北京安信方达知识产权代理有限公司
代理人：	龙洪;霍育栋
分类号：	G01N21/88(2006.01)I
申请人地址：	台湾省桃园县龟山乡山顶村兴邦路31之1号
主权项：	1.一种光学缺陷检测后的路径规划方法，包括下列步骤： (1)提供一受检物； (2)将所述受检物置于一光学检测机台上； (3)以所述光学检测机台扫描所述受检物； (4)在所述受检物上检测出一个以上的缺陷；以及 (5)提供一数值运算模型，得到一条连接所述一个以上的缺陷位置的一路径。
所属类别：	发明专利