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性能试验方法、系统及其控制方法、控制装置和存储介质
| 专利名称： | 性能试验方法、系统及其控制方法、控制装置和存储介质 |
| 摘要： | 本发明涉及细颗粒物浓度测量仪的性能试验方法、系统及其控制方法、控制装置和存储介质。在该性能试验方法中，在n个不同的细颗粒物浓度下，使被检细颗粒物浓度测量仪进行细颗粒物浓度的测量，其中，n大于或等于3。由此，本发明能够可靠地试验被检细颗粒物浓度测量仪的性能。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 松下知识产权经营株式会社 |
| 发明人： | 安池则之;中川贵司;渡部祥文 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810036756.X |
| 公开号： | CN108414410A |
| 代理机构： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
| 代理人： | 刘新宇 |
| 分类号： | G01N15/06(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/06 |
| 申请人地址： | 日本大阪府 |
| 主权项： | 1.一种细颗粒物浓度测量仪的性能试验方法，其特征在于，包括：在n个不同的细颗粒物浓度下，使被检细颗粒物浓度测量仪进行细颗粒物浓度的测量，其中，n大于或等于3。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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