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一种基于有理分式拟合多能投影曲线的X射线能谱估计方法
| 专利名称： | 一种基于有理分式拟合多能投影曲线的X射线能谱估计方法 |
| 摘要： | 本发明公开一种基于有理分式拟合多能投影曲线的X射线能谱估计方法，步骤如下：(1)设置X光机电压NkV，扫描M组不同厚度的模体，得到测量数据(Hj,pj),j＝1,…,M；(2)采用二次有理分式由测量数据拟合多能投影曲线P(H)；(3)在上述多能投影曲线上密集采样，得到采样数据(Hk,pk),k＝1,2,…,M*；(4)利用采样数据(Hk,pk),k＝1,2,…,M*，构造线性方程组，并求解得到X射线能谱。由于二次有理分式参数少，少量测量数据即可拟合出高精度的多能投影曲线。因此，本发明方法能够显著减少能谱估计需要的测量数据的个数，有效降低能谱估计的工作量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 首都师范大学 |
| 发明人： | 赵云松;罗婷;赵星 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201711201563.7 |
| 公开号： | CN108051458A |
| 代理机构： | 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 |
| 代理人： | 韩晓梅 |
| 分类号： | G01N23/046(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/046 |
| 申请人地址： | 100037 北京市海淀区西三环北路105号 |
| 主权项： | 一种基于有理分式拟合多能投影曲线的X射线能谱估计方法，其特征在于：步骤如下：⑴设置X光机电压N kV，扫描M组不同厚度的模体，得到测量数据(Hj,pj),j＝1,…,M，其中j为测量数据指标；⑵采用二次有理分式由测量数据拟合多能投影曲线P(H)；⑶在上述多能投影曲线P(H)上密集采样，得到采样数据(Hk,pk),k＝1,2,…,M*，其中k为采样数据指标；⑷利用采样数据(Hk,pk),k＝1,2,…,M*，构造线性方程组，并求解得到X射线能谱。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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