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一种X荧光光谱仪测定锰矿石中的主次量元素的方法
| 专利名称： | 一种X荧光光谱仪测定锰矿石中的主次量元素的方法 |
| 摘要： | 本发明属于分析测试技术领域，公开了一种X荧光光谱仪测定锰矿石中的主次量元素的方法，采用减少粉末效应、粒度效应、矿物效应的高压粉末制样技术，作为锰矿石XRF分析的制样方式，同时运用仪器定量分析软件校正元素之间的吸收增强效应、背景干扰、基体效应的干扰，建立一种测定锰矿石中多种组分的高压粉末压片X射线荧光光谱分析法。本发明拟采用可明显减少粉末效应、粒度效应、矿物效应的高压粉末制样技术作为XRF分析锰矿石的制样方式，实现高压粉末压片XRF一次性快速测定锰矿石中的主次量组分，避免采用传统锰矿石的配套系列方法，节约了人力和成本，提高了测试效率和经济效益，同时可实现绿色分析的环保理念。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 陕西;61 |
| 申请人： | 中国地质调查局西安地质调查中心 |
| 发明人： | 程秀花;曹珊;王烨;黎卫亮 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810002720.X |
| 公开号： | CN108051467A |
| 代理机构： | 西安长和专利代理有限公司 61227 |
| 代理人： | 黄伟洪 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N1;G01N23/223;G01N1/28 |
| 申请人地址： | 710054 陕西省西安市碑林区友谊东路166号 |
| 主权项： | 一种X荧光光谱仪测定锰矿石中的主次量元素的方法，其特征在于，所述X荧光光谱仪测定锰矿石中的主次量元素的方法为测定锰矿石中多种组分的高压粉末压片X射线荧光光谱分析法；所述方法采用减少粉末效应、粒度效应、矿物效应的高压粉末制样技术作为锰矿石XRF分析的制样方式；同时运用仪器定量分析软件校正元素之间的吸收增强效应、背景干扰、基体效应的干扰。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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