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原文传递 一种右佐匹克隆中杂质的检测方法
专利名称: 一种右佐匹克隆中杂质的检测方法
摘要: 本发明公开了一种右佐匹克隆中杂质的检测方法,包括如下步骤:(1)配制供试品溶液,对照品溶液,系统适应性溶液,杂质定位溶液;(2)使用高效液相色谱仪对右佐匹克隆中杂质进行检测,本发明的方法实现了右佐匹克隆中杂质的快速准确测定,具有较高的灵敏度和专属性,操作简捷,分离度符合标准,本发明的方法可用于右佐匹克隆的质量控制,并为此类化合物的研究开发及质量检测奠定了基础。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 天津;12
申请人: 天津华津制药有限公司
发明人: 黄波;雷勇胜;霍美娣;曹明丽;刘姝洋
专利状态: 有效
申请日期: 2019-02-14T00:00:00+0800
发布日期: 2019-04-23T00:00:00+0800
申请号: CN201910114681.7
公开号: CN109668994A
代理机构: 天津一同创新知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人: 陆艺
分类号: G01N30/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N30
申请人地址: 300241 天津市河北区水产前街28号
主权项: 1.一种右佐匹克隆中杂质的检测方法,其特征是包括如下步骤: (1)取待测的右佐匹克隆样品,精密称定,加流动相超声,使待测的右佐匹克隆样品溶解,配成3-5mg/mL的溶液,作为供试品溶液; 另取右佐匹克隆标准品,精密称定,加流动相超声,使右佐匹克隆标准品溶解,配成3-5μg/mL的溶液,作为对照品溶液; 另取右佐匹克隆标准品和杂质标准品,精密称定,加流动相超声,使标准品和杂质标准品溶解,配成右佐匹克隆标准品浓度为0.3-0.5mg/mL、每个杂质标准品均为0.03-0.05mg/mL的溶液,作为系统适应性溶液; 另取杂质标准品,精密称定,加流动相超声,使杂质标准品溶解,配成浓度为0.03-0.05mg/mL的溶液,作为杂质定位溶液; 所述流动相为:按体积比为51:49的比例,将流动相A和乙腈混合,所述流动相A用下述方法制成:取十二烷基硫酸钠6.5-9.5g与磷酸二氢钠1.0-2.2g,溶解于1000mL水中,用10%磷酸调节pH至3.95-4.05; (2)使用高效液相色谱仪,用十八烷基键合硅胶为填充剂,其中:所采用的色谱柱为GLSciencesInertsil ODS-3V,4.6mm×250mm,5.0μm;流速0.9ml/min,柱温30℃,检测波长为220nm; 取对照品溶液20μL,注入高效液相色谱仪,连续进样6针,相对标准偏差不得大于5.0%; 取系统适用性溶液20μL,注入高效液相色谱仪,所述杂质和右佐匹克隆分离度应大于1.5; 取杂质定位溶液20μL,注入高效液相色谱仪,记录色谱图,通过杂质的保留时间,来判断系统适用性溶液色谱图中杂质的归属,可以得出已知杂质的出峰顺序、保留时间和相对保留时间; 取供试品溶液和对照品溶液各20μL,依次注入高效液相色谱仪,记录色谱图,采集时间为主成分峰保留时间的2倍;根据杂质的归属,来确认供试品溶液中各杂质峰的归属,按照外标法计算各杂质质量含量和杂质质量含量的总和, 杂质质量含量=(ru/rs)×(Cs/Cu)×(1/Fi)×100%; 其中:ru为供试品溶液中杂质的响应值或峰面积; rs为对照品溶液中右佐匹克隆的响应值或峰面积; Cs为对照品溶液右佐匹克隆的浓度mg/mL; Cu为供试品溶液中右佐匹克隆的浓度mg/mL; Fi为对应杂质峰的相对校正因子; Fi为FA、FB、FC、FD、FE、FF、FG、FH和FI中至少一种; 相对校正因子FA=0.94、FB=2.14、FC=2.76、FD=1.22、FE=1.60、FF=3.18、FG=1.42、FH=2.48、 FI=0.79; 杂质质量含量的总和等于各杂质质量含量之和。 2.根据权利要求1所述的方法,其特征是所述杂质为杂质A、杂质B、杂质C、杂质D、杂质E、杂质F、杂质G、杂质H和杂质I中至少一种。
所属类别: 发明专利
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