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原文传递一种半导体封装检测装置

专利名称：	一种半导体封装检测装置
摘要：	本实用新型公开了一种半导体封装检测装置，包括检测台、固定块、滑轨、滑筒、活动板、螺纹杆、螺纹套筒、伺服电机、固定板、转轴、载板、滑块、夹板、拉杆、连接杆、把手、控制面板和弹簧，检测台上表面对称固定有固定块，检测台上的两个固定块对称固定有滑轨，滑轨外侧对称套设有滑筒，滑轨上的四个滑筒顶部固定有活动板，检测台上的两个固定块中部通过轴承转动连接有螺纹杆，螺纹杆外侧螺纹连接有螺纹套筒，螺纹套筒顶部与活动板下表面中部固定连接，检测台靠近螺纹杆的一端固定有伺服电机，此半导体封装检测装置功能多样，一次装载可观察两个基板，并可放置不同规格的基板，并且便于观察基板两端的位置，工作效率高。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	天津;12
申请人：	拓闻（天津）电子科技有限公司
发明人：	刘增红;常浩;薛良
专利状态：	有效
申请号：	CN201821294723.7
公开号：	CN208420731U
代理机构：	北京沁优知识产权代理事务所(普通合伙) 11684
代理人：	姚艳
分类号：	G01N21/88(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	300000 天津市滨海新区滨海高新区华苑产业区海泰西路18号南2楼一层101-10
主权项：	1.一种半导体封装检测装置，包括检测台(1)、固定块(2)、滑轨(3)、滑筒(4)、活动板(5)、螺纹杆(6)、螺纹套筒(7)、伺服电机(8)、固定板(9)、转轴(10)、载板(11)、滑块(15)、夹板(16)、拉杆(17)、连接杆(19)、把手(20)、控制面板(21)、弹簧(25)和显微镜(26)，其特征在于：所述检测台(1)上表面对称固定有固定块(2)，所述检测台(1)上的两个固定块(2)对称固定有滑轨(3)，所述滑轨(3)外侧对称套设有滑筒(4)，所述滑轨(3)上的四个滑筒(4)顶部固定有活动板(5)，所述检测台(1)上的两个固定块(2)中部通过轴承转动连接有螺纹杆(6)，所述螺纹杆(6)外侧螺纹连接有螺纹套筒(7)，所述螺纹套筒(7)顶部与活动板(5)下表面中部固定连接，所述检测台(1)靠近螺纹杆(6)的一端固定有伺服电机(8)，所述伺服电机(8)输出端与螺纹杆(6)固定连接，所述活动板(5)上表面对称固定有固定板(9)，所述活动板(5)上的两个固定板(9)通过轴承转动连接有转轴(10)，所述转轴(10)外侧固定有载板(11)，所述载板(11)两侧对称开设有第一存放槽(12)，所述第一存放槽(12)内壁底部均开设有第二存放槽(13)，所述第一存放槽(12)和第二存放槽(13)内壁一侧均开设有滑槽(14)，所述滑槽(14)内壁滑动连接有滑块(15)，所述滑块(15)远离滑槽(14)的一端固定有夹板(16)，所述滑块(15)远离夹板(16)的一侧固定有拉杆(17)，所述拉杆(17)靠近滑块(15)的一端外侧套设有弹簧(25)，所述弹簧(25)一端与滑块(15)固定连接，且弹簧(25)另一端与滑槽(14)内壁固定连接，所述滑槽(14)内壁远离滑块(15)的一端开设有滑孔(18)，所述载板(11)一侧的两个滑块(15)上两个的拉杆(17)一端穿过滑孔(18)固定有连接杆(19)，所述连接杆(19)中部固定有把手(20)，所述检测台(1)一侧固定有控制面板(21)，且伺服电机(8)与控制面板(21)电性连接，所述检测台(1)上表面固定有显微镜(26)。
所属类别：	实用新型