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原文传递测量荧光量子产率的方法及装置

专利名称：	测量荧光量子产率的方法及装置
摘要：	本发明提供了一种测量荧光量子产率的方法及装置，该方法包括：获取第一发射荧光光子和剩余光子数，第二发射荧光光子和剩余光子数，第三发射荧光光子和剩余光子数，第四发射荧光光子和剩余光子数；根据第二发射荧光光子和剩余光子数，第四发射荧光光子和剩余光子数，确定匀化吸收率；根据匀化吸收率，第一发射荧光光子和剩余光子数，第三发射荧光光子和剩余光子数，确定直射吸收率；根据第一发射荧光光子和剩余光子数，直射吸收率，确定待测样品吸收激发光光子数；根据第三发射荧光光子和剩余光子数，第四发射荧光光子和剩余光子数，匀化吸收率，直射吸收率，确定样品所发射荧光光子数；确定荧光量子产率。上述方案提高了测量荧光量子产率的准确度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	北京卓立汉光仪器有限公司
发明人：	石广立;张恒
专利状态：	有效
申请号：	CN201811115211.4
公开号：	CN109374585A
代理机构：	北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人：	王天尧;薛平
分类号：	G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	101102 北京市中关村科技园区通州园金桥产业基地环科中路16号68号楼B
主权项：	1.一种测量荧光量子产率的方法，其特征在于，包括：获取第一发射荧光光子数和第一剩余光子数，第二发射荧光光子数和第二剩余光子数，第三发射荧光光子数和第三剩余光子数，以及第四发射荧光光子数和第四剩余光子数；其中，所述第一发射荧光光子数和第一剩余光子数为：使激发光打在参考样品上，根据从积分球出口采集的激发光和荧光得到的发射荧光的光子数和激发光经过积分球后剩余的光子数；所述第二发射荧光光子数和第二剩余光子数为：使激发光不打在参考样品上，根据从积分球出口采集激发光和荧光得到的发射荧光的光子数和激发光经过积分球后剩余的光子数；所述第三发射荧光光子数和第三剩余光子数为：使激发光打在待测样品上，根据从积分球出口采集激发光和荧光得到的发射荧光的光子数和激发光经过积分球后剩余的光子数；所述第四发射荧光光子数和第四剩余光子数为：使激发光不打在待测样品上，根据从积分球出口采集激发光和荧光得到的发射荧光的光子数和激发光经过积分球后剩余的光子数；根据所述第二发射荧光光子数和第二剩余光子数，以及第四发射荧光光子数和第四剩余光子数，确定待测样品的匀化吸收率；根据所述匀化吸收率，第一发射荧光光子数和第一剩余光子数，以及第三发射荧光光子数和第三剩余光子数，确定待测样品的直射吸收率；根据第一发射荧光光子数和第一剩余光子数，以及所述直射吸收率，确定待测样品所吸收激发光的光子数；根据第三发射荧光光子数和第三剩余光子数，第四发射荧光光子数和第四剩余光子数，匀化吸收率以及直射吸收率，确定待测样品所发射荧光的光子数；根据待测样品所吸收激发光的光子数，以及待测样品所发射荧光的光子数，确定荧光量子产率。
所属类别：	发明专利