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自动光学检测不良信息反馈系统及方法
| 专利名称： | 自动光学检测不良信息反馈系统及方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种自动光学检测不良信息反馈系统及方法，其系统包括：自动光学检测单元，对待测试电路板进行自动光学检测，保存检测数据；数据采集单元，采集所述检测数据；溯源单元，将所述待测试电路板与加工所述待测试电路板的加工机台建立对应关系；处理单元，根据采集的所述检测数据，获取异常信息；报警单元，根据所述异常信息发出报警信息；本发明可以实现自动光学检测过程中的不良数据多功能查询和分析统计，在测试过程中，当不良品达到预警值可以自动进行提醒，确保生产过程中所出现的问题能够及时被发现，进而能够及时的提供后续的维护等操作，以便及时发现并解决问题，节约成本，减少了排查时间，从而提高生产效率和生产质量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 重庆;50 |
| 申请人： | 英业达（重庆）有限公司 |
| 发明人： | 吴强 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811301371.8 |
| 公开号： | CN109540901A |
| 代理机构： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 |
| 代理人： | 尹丽云 |
| 分类号： | G01N21/88(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 401331 重庆市沙坪坝区西区二路66号 |
| 主权项： | 1.一种自动光学检测不良信息反馈系统，其特征在于，包括：自动光学检测单元，对待测试电路板进行自动光学检测，保存检测数据；数据采集单元，采集所述检测数据；溯源单元，将所述待测试电路板与加工所述待测试电路板的加工机台建立对应关系；处理单元，根据采集的所述检测数据，获取异常信息，所述异常信息包括不良品的身份信息以及该不良品所对应的加工机台；报警单元，根据所述异常信息发出报警信息。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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