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一种玻璃基板内部缺陷处理及成分分析的方法
| 专利名称： | 一种玻璃基板内部缺陷处理及成分分析的方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种玻璃基板内部缺陷处理及成分分析方法，其特征在于：将待测玻璃样片（8）放在便携式放大目镜的场透镜（2），并将玻璃样片内部缺陷确定在场透镜镜面十字刻度线交叉处（9）上；手持玻璃刀支撑部（5），用刀轮（4）手动切割玻璃内部缺陷表面，使玻璃暴露出内部缺陷；将暴露出内部缺陷的玻璃样片切面（11）做镀金处理，在切面表面形成一层适中密度的膜层。本发明优点：结构简单实用、操作方便、适用范围广、效率高，满足生产过程中玻璃基板内部缺陷大小在10μm以上的缺陷成分分析的需要。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 安徽;34 |
| 申请人： | 蚌埠中光电科技有限公司 |
| 发明人： | 彭寿;张冲;舒众众;刘文瑞;张晓东;冯冠奇 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-09-02T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-10T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910821165.8 |
| 公开号： | CN110554065A |
| 代理机构： | 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 |
| 代理人： | 杨晋弘 |
| 分类号： | G01N23/207(2006.01);G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 233000 安徽省蚌埠市龙子湖区石屋路199号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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