专利名称: | 微环境方式半导体制造装置 |
摘要: | 在微环境方式半导体制造装置中,防止外气从半导体制造装置的开 口部、与密闭容器的晶片出入口的间隙侵入、而使灰尘附着于上述密闭 容器内的晶片。从具有过滤器单元(6a)的清洁空气喷出装置(1),向 取出装入晶片(73)的密闭容器(71)的出入口(74)、与安装于半导体 制造装置(76)的前面板(77)的装载部(78)的开口部(98)之间的 间隙(96),喷出清洁空气,而形成气帘,该过滤器单元(6a)通过送气 管(3)与空气供给装置(2)连接、且将圆筒状过滤器(10)连接成矩 形框状,由此,当将密闭 |
专利类型: | 发明专利 |
申请人: | 近藤工业株式会社;日本剑桥过滤器株式会社 |
发明人: | 木崎原稔郎;河内山茂;冈田诚;上野幸太 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2003-02-27T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: | CN03825753.X |
公开号: | CN1720613 |
代理机构: | 北京集佳知识产权代理有限公司 |
代理人: | 徐 谦 |
分类号: | H01L21/68(2006.01)I |
申请人地址: | 日本国东京都 |
所属类别: | 发明专利 |