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原文传递 微环境方式半导体制造装置
专利名称: 微环境方式半导体制造装置
摘要: 在微环境方式半导体制造装置中,防止外气从半导体制造装置的开 口部、与密闭容器的晶片出入口的间隙侵入、而使灰尘附着于上述密闭 容器内的晶片。从具有过滤器单元(6a)的清洁空气喷出装置(1),向 取出装入晶片(73)的密闭容器(71)的出入口(74)、与安装于半导体 制造装置(76)的前面板(77)的装载部(78)的开口部(98)之间的 间隙(96),喷出清洁空气,而形成气帘,该过滤器单元(6a)通过送气 管(3)与空气供给装置(2)连接、且将圆筒状过滤器(10)连接成矩 形框状,由此,当将密闭
专利类型: 发明专利
申请人: 近藤工业株式会社;日本剑桥过滤器株式会社
发明人: 木崎原稔郎;河内山茂;冈田诚;上野幸太
专利状态: 有效
申请日期: 2003-02-27T00:00:00+0800
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN03825753.X
公开号: CN1720613
代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
代理人: 徐 谦
分类号: H01L21/68(2006.01)I
申请人地址: 日本国东京都
所属类别: 发明专利
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